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NanoSensors原子力顯微鏡探針

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公司名稱 廣州市本原納米儀器有限公司
品牌
型號
所在地 廣州市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/9/27 14:30:18
訪問次數(shù) 40

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家OladfWolter博士于1991年創(chuàng)建

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	NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家Oladf Wolter博士于1991年創(chuàng)建。NanoSensors公司是世界上重要的面對提供高品質(zhì)AFM探針的廠家。 NanoSensors出產(chǎn)的針尖曲率半徑小于10nm的AFM硅探針，對世界上許多重大的科學(xué)成果都有著貢獻(xiàn)。在多年間，NanoSensors不斷創(chuàng)新技術(shù)，擴(kuò)展了AFM探針的種類，并獲得多個國際獎項。 2002年，NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團(tuán)，繼續(xù)堅持為的科研工作者提供品質(zhì)的AFM探針。進(jìn)入NanoSensors網(wǎng)站

	NanoSensors常用的產(chǎn)品

		PPP-NCHR 輕敲模式/非接觸模式探針，每個基片有一個長方形懸臂，共振頻率330kHz，彈性系數(shù)42N/m，針尖曲率半徑<10nm，背面鍍鋁反射層。



		PPP-CONTR 接觸模式探針，每個基片有一個長方形懸臂，共振頻率13kHz，彈性系數(shù)0.2N/m，針尖曲率半徑<10nm，背面鍍鋁反射層。



		PPP-MFMR 用于磁力顯微鏡測量，每個基片有一個長方形懸臂，共振頻率75kHz，彈性系數(shù)2.8N/m，針尖曲率半徑<50nm，針尖鍍硬磁性材料鍍層。

NanoSensors產(chǎn)品概覽

	PointProbe Plus (PPP)系列常用探針 PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針，適用于大部分的應(yīng)用及商品化的AFM。 PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm，可實現(xiàn)高分辨率的應(yīng)用。整個系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。


	SuperSharp Silicon (SSS)系列超尖探針 SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術(shù)生產(chǎn)，專門為超高分辨的成像所設(shè)計。 SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm，實現(xiàn)超高分辨率的應(yīng)用。整個系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。


	High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列高長徑比探針 AR系列探針專門為測量具有大長徑比或垂直臺階結(jié)構(gòu)的樣品而設(shè)計。 AR系列探針具有接近垂直的針尖，總體針尖長度達(dá)到10-15um，針尖的曲率半徑小于5度（AR10小于2.8度）。


	Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列金剛石鍍層探針 DT(金剛石)和CDT(導(dǎo)電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況，同樣也應(yīng)用于摩擦力測量、樣品彈性測量等。


	MFM 磁力顯微鏡探針多種規(guī)格（硬磁或軟磁）的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應(yīng)用而設(shè)計。所有探針的磁性鍍層，均具有的穩(wěn)定性。


	Carbon Nanotube (CNT)系列碳納米管探針 Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應(yīng)用而設(shè)計的。碳納米管探針使用化學(xué)沉積的方法，在PPP系列針尖的處，生長出碳納米管，從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長徑比及的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中，能獲得的分辨率。


	AdvancedTEC (ATEC)系列 AdvancedTEC系列探針，在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種的技術(shù)使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針，從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。


	Plateau (PL)系列 Plateau系列探針，使用離子束切割技術(shù)，將傳統(tǒng)錐形的針尖弄鈍，在針尖處形成一個直徑為1.8μm的圓形平臺，為用戶的特殊應(yīng)用提供了個性化的探針。


	Transfer Standards /Calibration Standards 標(biāo)準(zhǔn)樣品 NanoSensors提供的高精度標(biāo)準(zhǔn)樣品包括： 1. 二維正交標(biāo)準(zhǔn)樣品：周期分別為100nm、200nm和300nm。 2. 高度標(biāo)準(zhǔn)樣品：臺階高度為8nm。 3. 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣品：100um以內(nèi)的峰峰值小于10nm。



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