電子顯微鏡分析儀QUANTAX EBSD系統(tǒng)與廣受歡迎的OPTIMUS TKD探頭相結合，是用于分析SEM中納米材料的晶體學解決方案。
一、亮點
1）1.5nm------有效的空間分辨率
的同軸 TKD 提供的樣品-探測器幾何構型，從而實現(xiàn)的性能
2）2nA------測試所需的電流
同軸 TKD 可實現(xiàn)低探頭電流測試，且不影響測試速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量
3）125,000Pps------超快獲取 FSE、BSE 和 STEM 圖像
的ARGUS成像系統(tǒng)可在幾秒鐘內(nèi)實現(xiàn)高對比度和低噪聲成像
4）具有的空間分辨率的納米材料取向分布圖
QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器，是分析 SEM 中納米材料的解決方案。原因如下：
a）提供 1.5 nm 的空間分辨率
b）在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測試電流進行測試
c）在使用浸入式透鏡模式的超高分辨 SEM 下工作的 TKD 解決方案
d）全自動內(nèi)置 ARGUS 成像系統(tǒng)
二、優(yōu)勢
同軸 TKD的優(yōu)勢
a）實現(xiàn)空間分辨率
b）SEM 中獲取取向分布圖和物相分布圖
c）用于快速測試，同時不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量/完整性
d）以令人難以置信的速度，通過全自動信號優(yōu)化，以出色的對比度和分辨率拍攝 STEM 圖像
e）可使用低電流分析束流敏感材料。
三、相關圖片
