桌上型恒溫恒濕試驗箱

桌上型恒溫恒濕試驗箱--產(chǎn)品用途

桌上型恒溫恒濕試驗箱對仿真產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下（高低溫操作/儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結(jié)露試驗等）,應(yīng)用于國防工業(yè)，航天工業(yè)，自動化零組件，汽車組件，電子電器零組件，儀器儀表,材料, 塑料，化工，食品，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐濕、耐寒、耐干性能及品質(zhì)管理工程之試驗規(guī)范，對試品在給定 的環(huán)境條件下檢測產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變作出評價。

桌上型恒溫恒濕試驗箱--控制系統(tǒng)特點

桌上型結(jié)構(gòu)設(shè)計，占地空間小，不受地域空間限制

采用大視窗觀察窗口，試驗產(chǎn)品狀態(tài)可視化更強

自主7寸TFT真彩LCD觸摸屏控制器，直觀，操作簡單,運行穩(wěn)定

可低溫連續(xù)有效運行1000小時不結(jié)霜，無需容霜，溫度不回升

多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示

桌上型恒溫恒濕試驗箱--符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件 　

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件 　　

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備/

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.34-2012/IEC60068-2-38：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗

GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67：1995環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗

GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認

GB/T 2424.6-2006/IEC 60068-3-6：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認

GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GJB 360B-2009中的方法103 穩(wěn)態(tài)濕熱試驗和方法106 耐濕試驗

桌上型恒溫恒濕試驗箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)（可制作非標(biāo)尺寸）

注：可根據(jù)用戶實際要求尺寸量身定制。