當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 測量/計量儀器>其它測量/計量儀器>其它測量儀器> SuperView W3白光干涉儀
返回產(chǎn)品中心>SuperView W3白光干涉儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 江蘇德華精密儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 常州市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/10/9 19:23:28
- 訪問次數(shù) 32
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 測量/計量儀器>其它測量/計量儀器>其它測量儀器> SuperView W3白光干涉儀
返回產(chǎn)品中心>參考價 | 面議 |
基本介紹: 原理:非接觸、三維白光掃描干涉儀
SuperView W3白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。
SuperView W3白光干涉儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、工、科研院所等領(lǐng)域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標(biāo)準(zhǔn)。
1)樣件測量能力:滿足從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質(zhì)等所有類型樣件表面的測量;
2)自動測量功能:自動單區(qū)域測量功能、自動多區(qū)域測量功能、自動拼接測量功能;
3)編程測量功能:可預(yù)先配置數(shù)據(jù)處理和分析步驟,結(jié)合自動測量功能,實(shí)現(xiàn)一鍵測量;
4)數(shù)據(jù)處理功能:提供位置調(diào)整、去噪、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;
5)數(shù)據(jù)分析功能:提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。
6)批量分析功能:可根據(jù)需求參數(shù)定制數(shù)據(jù)處理和分析模板,針對同類型參數(shù)實(shí)現(xiàn)一鍵批量分析;
1)同步支持6、8、12英寸三種規(guī)格的晶圓片測量,并可一鍵實(shí)現(xiàn)三種規(guī)格的真空吸盤的自動切換以適配不同尺寸晶圓;
2)具備研磨工藝后減薄片的粗糙度自動測量功能,能夠一鍵測量數(shù)十個小區(qū)域的粗糙度求取均值;
3)具備晶圓制造工藝中鍍膜臺階高度的測量,覆蓋從1nm~1mm的測量范圍,實(shí)現(xiàn)高精度測量;
對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
半導(dǎo)體制造(減薄粗糙度、鐳射槽道輪廓) | 光學(xué)元器件.曲率&輪廓尺寸&粗糙度 |
(超精密)加工.輪廓尺寸&角度 | 表面工程(摩擦學(xué)).輪廓面積&體積 |
3C電子(玻璃屏).粗糙度 | 標(biāo)準(zhǔn)塊.臺階高&粗糙度 |
點(diǎn)擊表格內(nèi)圖片或文字可查看詳細(xì)報告數(shù)據(jù)
光學(xué)玻璃鏡片樣品測試報告 | 金屬片表面摩擦磨損樣品測試報告 |
石英砂樣品測試報告 | 手機(jī)配件樣品測試報告 |
超光滑凹面樣品測試報告 | 薄膜粗糙度測試報告 |
微光學(xué)器件樣品測試報告 | 微納結(jié)構(gòu)樣品測試報告 |
微透鏡陣列樣品測試報告 |
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: