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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 常州沃特儀器有限公司
- 品牌
- 型號 VT/GDW
- 所在地 常州市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/10/11 17:22:36
- 訪問次數(shù) 32
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高低溫試驗箱箱體結(jié)構(gòu)特點:試驗箱箱體采用數(shù)控機床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便
高低溫試驗箱箱體結(jié)構(gòu)特點:
試驗箱箱體采用數(shù)控機床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板,箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀
質(zhì)感和潔凈度。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用。
控制器:溫度控制采用全進口7寸觸摸屏+PLC控制儀表,操作設(shè)定簡單。(美國SWS550)
資料及試驗條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
冷凍及風路循環(huán)系統(tǒng):制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
采用多翼式送風機強力送風循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風路循環(huán)出風回風設(shè)計,風壓風速均符合測試標準,并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
規(guī)格與技術(shù)參數(shù) :
型號(CM) | VT/GDJ-100 | VT/GDJ-225 | VT/GDJ-500 | VT/GDJ-800 | VT/GDJ-010 | |
工作室尺寸 | 45*45*50 | 60*50*75 | 70*80*90 | 80*100*100 | 100*100*100 | |
外型尺寸 | 95*99*162 | 110*100*187 | 120*130*203 | 130*150*213 | 150*150*213 | |
功率(-40℃時) | 4.5(KW) | 5.5 (KW) | 8.0(KW) | 9.0(KW) | 11.0(KW) | |
性能 | 溫度范圍 | A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃ | ||||
波動/均勻度 | ≤±0.5℃/≤±2℃ | |||||
升溫速率 | 1.0~3.0℃/min | |||||
降溫速率 | 0.7~2.0℃/min | |||||
控制 | 控制器 | 進口7寸觸摸屏+PLC微電腦集成控制器 | ||||
精度范圍 | 設(shè)定精度:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,解析度:±0.1℃ | |||||
溫濕度傳感器 | PT100高精度溫度傳感器 | |||||
加熱系統(tǒng) | 全獨立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器 | |||||
制冷系統(tǒng) | 全封閉風冷單級壓縮制冷方式/原裝法國“泰康”/全封閉風冷復(fù)迭壓縮制冷方式 | |||||
循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪 | |||||
使用 | 外箱材質(zhì) | 優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理 | ||||
內(nèi)箱材質(zhì) | SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)鏡面光板 | |||||
保溫材質(zhì) | 聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡、超細玻璃纖維綿 | |||||
門框隔熱 | 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條 | |||||
標準配置 | 多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔(25、50、100mm)1個 | |||||
安全保護 | 漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護 | |||||
定時功能 | 0.1~999.9(S、M、H)可調(diào) | |||||
電源電壓 | AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線制 | |||||
使用環(huán)境溫度 | 5℃~+30℃ ≤85%R.H | |||||
注:1、“VT/GDJ”為高低溫試驗箱型號,外形尺寸僅供參考以實物為主 |
高低溫試驗箱--符合標準
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1:2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GB/T2951.12-2008/IEC 60811-1-2:1985;GB/T2951.14-2008/IEC 60811-1-4:1985;
SC/T7002.2-2016,SC/T7002.3-2016
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