CJS系列三箱換氣式溫沖該產品適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制

CJS系列三箱換氣式溫沖

      該產品適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。

三箱式：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊, 測試產品為靜態(tài)

型號						CJS-02	CJS-03	CJS-05
性 能 參 數(shù)	預熱室		預熱溫度上限			200℃
			溫度上升時間			+20～＋200℃約20min
	預冷室		預冷溫度下限			-75℃
			溫度下降時間			+20～-70℃約80min
	工作室		溫度沖擊范圍			(-55℃～－10)～（50~＋150℃）
			溫度波動度			≤±0.5℃
			溫度偏差			≤±2℃
	溫度回復時間					≤5min
	溫  度  回  復  條  件	CJS-02 Ⅰ		條件一		高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC
				條件二		高溫+150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
		CJS-02 Ⅱ		條件一		高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min，樣品重量20Kg塑封IC
				條件二		高溫+150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量20Kg塑封IC。
				條件三		高溫+150℃暴露30min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量7.5Kg塑封IC。
		CJS-03Ⅰ		條件一		高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
				條件二		高溫+150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
		CJS-03 Ⅱ		條件一		高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min，樣品重量20Kg塑封IC。
				條件二		高溫+150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量20Kg塑封IC
				條件三		高溫+150℃暴露30min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
		CJS-05 Ⅰ		條件一		高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
				條件二		高溫+150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
		CJS-05 Ⅱ		條件一		高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min，樣品重量20Kg塑封IC。
				條件二		高溫+150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量20Kg塑封IC。
				條件三		高溫+150℃暴露30min,低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg塑封IC。
結 構	外殼					冷軋鋼板表面噴塑
	內膽					不銹鋼板
	隔熱材料					聚氨酯發(fā)泡+超細玻璃棉
制 冷	制冷方式					復疊式雙級壓縮機制冷方式（水冷）
	制冷機					進口壓縮機
測試孔						左側Φ50mm1個
控制器						PLC控制器、彩色液晶顯示觸摸屏
記錄裝置/電腦接口						微型打印機/ RS485接口、RS232轉換線（選配）
工作室尺寸(mm)					D×W ×H	670×650×460	670×970×460	670×970×780
外部尺寸(mm)					D×W ×H	2245×1610×1995	2245×1940×1995	2245×1940×2315
裝機功率（KW）					I/ II	35/ 46	48/56	50/56
電源						AC380V/50Hz三相四線制+接地線
標準配置						產品使用說明書1份、試驗報告1份、合格證及質量保證書各1份、打印紙5只、 擱板2塊、擱條4根、色帶1只、硅橡膠軟塞一套，帶腳輪
滿足標準						GJB150.5

注： 水冷型(水溫10～28℃，水壓0.1～0.3Mpa,以便確保降溫性能)；