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- 公司名稱 德祥科技有限公司
- 品牌
- 型號 C-FLAT
- 所在地 上海市
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2015/11/22 12:00:00
- 訪問次數 976
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Protochips致力于發(fā)展用于納米尺度科學研究的突破性分析工具及產品的研發(fā),將觀察儀器和納米材料處理*結合,成功的將電子顯微鏡由一般的成像拍攝功能轉變?yōu)檎嬲募{米實驗室,實現電鏡在各種條件下原位觀察樣品反應過程和結果。
公司介紹:
Protochips致力于發(fā)展用于納米尺度科學研究的突破性分析工具及產品的研發(fā),將觀察儀器和納米材料處理*結合,成功的將電子顯微鏡由一般的成像拍攝功能轉變?yōu)檎嬲募{米實驗室,實現電鏡在各種條件下原位觀察樣品反應過程和結果。
Protochip旗下共包括:ADURO, POSEIDON, C-FLAT, DURASIN四款產品, 可以應用于生物學、生物醫(yī)學、冶金學、材料、電子和半導體、材料表面加工、金屬失效分析等領域。
產品簡介:
C - FLAT™是用于低溫透射電鏡的新款多孔碳支持膜,技術制造,超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻,為冰層厚度均勻打下良好的基礎。膜上的花樣孔采用深紫外光刻印制技術,確保了孔大小的精確(精確至微米級別);同時確保了孔型的連續(xù)性,精細的制造技術*消除了多于的碳和碳膜孔產生的邊角料。
C - FLAT™ 優(yōu)勢
·C-flat™可得到更好的數據
C-flat™ 是用于低溫透射電鏡的新款多孔碳支持膜,技術制造,超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻,冰層厚度更均勻,能得到更高質量數據和更高分辨率。
·C-flat™更實惠
C-flat™有25,50,100不同包裝可選,適合不用需求。
·C-flat™開包可用
由于芯片網格都是清潔的,只需做簡單的準備工作就可以進行檢測。在樣品制備過程中,大大減少了準備時間。
應用
C-flat™實現低溫TEM單個粒子分析高分辨率數據、低溫電子斷層掃描和自動TEM分析。
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