高低溫試驗(yàn)箱:適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品型號(hào)目錄:
設(shè)備型號(hào)
| 工作室尺寸(深*寬*高)
| 外形尺寸約(深*寬*高)
|
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F/GDW-50L | 350mm*350mm*400mm | 750mm*850mm*1510mm |
F/GDW-100L | 400mm*500mm*500mm | 800mm*1000mm*1610mm |
F/GDW-150L | 500mm*500mm*600mm | 900mm*1000mm*1710mm |
F/GDW-225L | 500mm*600mm*750mm | 900mm*1000mm*1860mm |
F/GDW-408L | 600mm*800mm*850mm | 1100mm*1300mm*1910mm |
F/GDW-500L | 700mm*800mm*900mm | 1200mm*1300mm*2010mm |
F/GDW-800L | 800mm*1000mm*1000mm | 1300mm*1500mm*2110mm |
F/GDW-1000L | 1000mm*1000mm*1000mm | 1500mm*1500mm*2110mm |
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo):
性
能
指
標(biāo) | 溫度范圍 | -20℃~+180℃/-40℃~+180℃/-50℃~+180℃/-60℃~+180℃/-70℃~+180℃ |
升溫速率 | 3℃~5℃/min |
降溫速率 | 0.7℃~1.0℃/min(常規(guī)型) |
降溫速率 | 2℃~5℃/5℃~10℃(快速溫變型) |
解析精度 | 0.1℃ |
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ |
溫度均勻度 | ≤±2.0℃ |
箱
體
結(jié)
構(gòu) | 外箱材質(zhì)
| 1.5mm厚優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板靜電噴涂,堅(jiān)固、美觀、耐用 |
內(nèi)箱材質(zhì) | 優(yōu)質(zhì)1.2mm厚304SUS不銹鋼板 |
保溫材質(zhì) | 硬質(zhì)聚氨酯發(fā)泡/玻璃纖維 |
樣品架 | 兩層可移動(dòng)樣品架,單層承重50kg以上 |
實(shí)驗(yàn)室觀察窗 | 雙層鋼化玻璃,帶導(dǎo)電功能,LED照明 |
測(cè)試孔 | 直徑50mm 直徑100mm(可定制) |
控
制
系
統(tǒng)
簡(jiǎn)
介 | 制冷系統(tǒng) | 機(jī)械壓縮機(jī) 復(fù)疊制冷(風(fēng)冷/水冷) |
壓縮機(jī) | 法國(guó)半封閉式制冷壓縮機(jī) |
溫度傳感器 | 優(yōu)質(zhì)PT100鉑金電阻 |
溫度控制器 | 國(guó)內(nèi)外品牌(國(guó)內(nèi)頌華,國(guó)外進(jìn)口TEMI,優(yōu)易控,西門子) |
電器配件 | 施耐德為主 |
實(shí)驗(yàn)室及電控部分 | |
制冷系統(tǒng)
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控制器簡(jiǎn)介 | |
產(chǎn)品執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GBT2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A低溫
GBT2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B 高溫
GBT 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
SJT 31391-1994 試驗(yàn)箱完好要求和檢查評(píng)定方法
GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GJB150.3A-2009(MIL-STD-810F-2000)高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009(MIL-STD-810F-2000)低溫試驗(yàn)
SJT 31129-1994 高低溫測(cè)試設(shè)備完好要求和檢查評(píng)定方法
GBT 11158-1989 高溫試驗(yàn)技術(shù)條件
JB-T 8250.5-1999 照相機(jī)高、低溫試驗(yàn)方