三綜合試驗(yàn)箱(溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱)--產(chǎn)品用途

三綜合試驗(yàn)箱即溫度濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱，是綜合溫度、濕度、振動(dòng)三功能的試驗(yàn)箱。具有快速溫變速率,提供溫度、濕度和振動(dòng)等的綜合測(cè)試環(huán)境的功能。

三綜合試驗(yàn)箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段。

三綜合試驗(yàn)箱(溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱)--符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.10-2008/IEC 60068-2-6:1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化

GB/T 2423.35-2005/IEC 60068-2-50：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.36-2005/IEC 60068-2-51：1983 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.58-2008/IEC 60068-2-80：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi:振動(dòng) 混合模式

GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第３部分：高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)

GJB 150.19裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第19部分：溫度—濕度—高度試驗(yàn)

GB/T 12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

三綜合試驗(yàn)箱(溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱)--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)(可制作非標(biāo)尺寸)