步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱具有試驗(yàn)空間大、操作人員可以試驗(yàn)室對(duì)試驗(yàn)品進(jìn)行操作的特點(diǎn)，配置有保護(hù)、加熱、制冷的一系列裝置，為工業(yè)生產(chǎn)廠家的批量或者大型零件、半成品、成品提供了溫濕度環(huán)境測(cè)試的條件，是大型或不規(guī)則測(cè)試對(duì)象進(jìn)行快速溫度變化、高濕試驗(yàn)的理想環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、電工電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧?、新材料、新能源等在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

1.GB2423.22－2002 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3) 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

3.GB2423.4-93(IEC68-2-30) 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

4.GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法

5.GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法

6.GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法

7.GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

8.GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

9.GBT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005交變濕熱方法

10.GB-T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

11.GB-T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

12.GBT 10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件