OmniScan MX ECA渦流陣列檢測

渦流陣列技術(shù)

渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢

同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢：

l  檢測時間大幅度降低。

l  單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。

l  減小了機(jī)械和自動掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

l  提供檢測區(qū)域?qū)崟r圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。

l  適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。

l  改進(jìn)了檢測的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設(shè)計出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應(yīng)檢測部件的外形。

用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。

用于表面裂痕檢測的探頭。

渦流陣列軟件

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

l  采集模式顯示分析模式顯示

l  C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷。

l  分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。

l  波幅、相位和位置測量。

l  可調(diào)彩色調(diào)色板。

l  大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應(yīng)。

校準(zhǔn)向?qū)?/span>

l  分步進(jìn)行。

l  一組中的所有通道可被同時校準(zhǔn)，每個通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。

l  波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。

報警

l  ３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。

l  可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀（扇形、長方形、環(huán)形等）。

自動探頭識別和配置

l  探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設(shè)置。

l  頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。

實(shí)時數(shù)據(jù)處理

l  實(shí)時數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。

l  使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。

l  數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應(yīng)用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測效果，特別是對小裂紋而言。

技術(shù)規(guī)格