新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測儀器功能相結(jié)合，提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III粒度儀通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品簡介

新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測儀器功能相結(jié)合，提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III粒度儀通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。

SediGraph粒度儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

技術(shù)特點(diǎn)

 粒度儀高精度X射線管，7年保修

簡化的泵系統(tǒng)，確?？焖俜治霾⒁子诰S護(hù)

低噪音，提供安靜的工作環(huán)境

維護(hù)提醒裝置，根據(jù)已分析的樣品數(shù)自動提醒維護(hù)

混合室溫度電腦控制，提高重復(fù)性與重現(xiàn)性

多功能報(bào)告系統(tǒng)可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種數(shù)據(jù)顯示選項(xiàng)

操作軟件可連接網(wǎng)絡(luò)，提供點(diǎn)擊選擇、網(wǎng)絡(luò)化、打印機(jī)選擇、剪切和粘貼等功能

SediGraph粒度儀*符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品應(yīng)用

SediGraph粒度儀適合于各種無機(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標(biāo)準(zhǔn)分析儀器。