USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此zui適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

技術(shù)參數(shù)：

*1 選件組件 　

*2 本社測(cè)定條件下的測(cè)定 　

*3 裝配透過(guò)率測(cè)定套件與45度反射測(cè)定套件的總重量為33kg。

*4 點(diǎn)徑實(shí)的測(cè)定功能

使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過(guò)率、入射角45度反射率的各種分光測(cè)定。

測(cè)定反射率

測(cè)定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點(diǎn)的反射率。