白光共聚焦顯微鏡結(jié)合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學(xué)顯微鏡兩者的優(yōu)點(diǎn)。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。

儀器簡(jiǎn)介：
 

　　白光共聚焦顯微鏡結(jié)合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學(xué)顯微鏡兩者的優(yōu)點(diǎn)。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。
 

　　瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機(jī)械工作者提供先進(jìn)、精準(zhǔn)、全面的材料機(jī)械性質(zhì)測(cè)試儀器、分析咨詢以及測(cè)試服務(wù)。我們的主要產(chǎn)品包括：
 

　　測(cè)量材料硬度和彈性模量的納米級(jí)、微米級(jí)儀器化壓入測(cè)試儀(納米壓痕儀, 顯微壓痕儀)；
 

　　界定膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力的納米級(jí)、微米級(jí)、大載荷劃痕測(cè)試儀 (Scratch tester) ；
 

　　包括真空、高溫以及線性往復(fù)運(yùn)動(dòng)等選項(xiàng)的摩擦磨損測(cè)試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) ；
 

　　簡(jiǎn)便易用的膜厚測(cè)試儀；
 

　　用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope)
 

　　主要特點(diǎn)：
 

　　可與CSM各種微米尺度測(cè)量模塊結(jié)合使用，以分析微米級(jí)劃痕和微米級(jí)壓痕的三維表面形貌
 

　　非接觸式測(cè)量，*無損測(cè)量
 

　　XY大范圍掃描(使用CSM標(biāo)準(zhǔn)操作平臺(tái))
 

　　Z方向?qū)拻呙璺秶?(范圍 大至400 微米)
 

　　精確的二維輪廓，三維成像和表面粗糙度測(cè)量
 

　　可以在透明的材料表面進(jìn)行成像
 

　　粗糙或光滑表面成像
 

　　Z方向掃描范圍的可有多種選擇