UHV NANOPEOBE是一個精密的分析儀器，不會破壞被分析樣品，用于納米尺度的四點接觸式電測量和用于復雜集成電路的納米器件的功能測試。 Omicron NanoScience成熟的SPM技術是能夠進行納米尺度的探測技術的關鍵因素，它提供精準的探針導航和安全的針尖粗定位，從而保護了*直徑僅有十幾 個納米的探針。

　　強大的集成四個獨立掃描探針顯微鏡的納米探測系統(tǒng)

　　納米技術領域的一個重大挑戰(zhàn)是如何將單個納米器件植入大型集成電路中。器件工藝研究需要納米尺度大小器件的電子特性表征，相應的也需要能夠將感興趣范圍從毫米尺度縮小至納米尺度的導航設備。

　　UHV NANOPEOBE是一個精密的分析儀器，不會破壞被分析樣品，用于納米尺度的四點接觸式電測量和用于復雜集成電路的納米器件的功能測試。 Omicron NanoScience成熟的SPM技術是能夠進行納米尺度的探測技術的關鍵因素，它提供精準的探針導航和安全的針尖粗定位，從而保護了*直徑僅有十幾 個納米的探針。