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MICRONANO D5A 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡

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MicroNano D5A型掃描探針顯微鏡不是一款固定配置的機(jī)型,我們提供了17種功能模塊供您根據(jù)需要自由選配組合.
選購(gòu)時(shí),請(qǐng)咨詢我們的銷售顧問(wèn).

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MicroNano® D5A系列產(chǎn)品特點(diǎn)介紹

選擇一款掃描探針顯微鏡,您應(yīng)該從以下幾方面考評(píng)技術(shù)性能:

 

一、 核心要求

1. 根據(jù)您現(xiàn)階段的工作需要,選擇功能模塊(決定了價(jià)格)

2. 驗(yàn)證儀器綜合分辨率水平SPMzui核心關(guān)鍵指標(biāo))

重要提醒:分辨率指標(biāo)是一項(xiàng)和掃描器量程關(guān)聯(lián)的綜合性指標(biāo)

您應(yīng)該了解清楚zui大量程的那個(gè)掃描器的分辨率指標(biāo)(如果廠家提供多個(gè)掃描器的話)

3. 了解樣品移動(dòng)定位的措施,是否能保障樣品無(wú)盲點(diǎn),精確移動(dòng)到任意您想成像的區(qū)域

如果不能首先解決樣品移動(dòng)定位的問(wèn)題,SPM的工作將無(wú)法有效進(jìn)行,再高的分辨率也是空談,因?yàn)槟赡苷也坏侥胗^測(cè)的區(qū)域!

 

二、 其它要求

4. 是否能夠根據(jù)特殊的科研要求提供儀器改造服務(wù)?

5. 是否能夠設(shè)計(jì)更加人性化,使操作更加方便?

 

我們?yōu)槟峁┑?/span>SPM功能模塊如下,供您自由搭配選型.    詳細(xì)指標(biāo)及其他資料請(qǐng)咨詢銷售顧問(wèn).

1.掃描隧道顯微鏡模塊(STM)用于獲取導(dǎo)電樣品表面納米尺度的形貌像;

包含:恒高/恒流模式

2.原子力顯微鏡模塊(AFM)用于獲取樣品表面納米尺度的形貌像及其相關(guān)信息;

包含:接觸模式/起伏力/側(cè)向力;輕敲模式/起伏力/側(cè)向力/振幅/相位。

3.超級(jí)曲線測(cè)量模式任意設(shè)置所有AD作為Y信號(hào),所有DA作為X信號(hào)進(jìn)行曲線掃描,如I-V、I-Z、力-距離、振幅-距離、頻率-相位、相位-距離、頻率-振幅 等等曲線。

4.納米加工模塊:刻蝕模式(電刻蝕/力刻蝕/DPN(選配)),刻蝕軌跡(矢量式/圖形式)

5.高速精密電控樣品移動(dòng)平臺(tái):計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制電控馬達(dá)進(jìn)行精確樣品移動(dòng)和定位,zui小步進(jìn)50nm,移動(dòng)范圍5*5mm。可在CCD視頻界面或SPM圖像掃描界面,直接用鼠標(biāo)拖動(dòng)待測(cè)區(qū)到目標(biāo)位置,計(jì)算機(jī)控制移動(dòng)平臺(tái)自動(dòng)定位。

6.高分辨彩色CCD光學(xué)觀測(cè)系統(tǒng):在計(jì)算機(jī)上成像,用于觀察探針和樣品,放大倍數(shù)80-600倍,視場(chǎng)1.6mm,配套控制及成像軟件。

7.膜厚/臺(tái)階測(cè)量模塊用臺(tái)階掃描的方式確定膜厚、臺(tái)階高度等,曲線很直觀的反映出掃描過(guò)程中膜和襯底特定位置的高度。只有配套電控樣品移動(dòng)平臺(tái)才能精確移動(dòng)到臺(tái)階位置。

8.摩擦力顯微鏡(LFM)可定量評(píng)價(jià)極輕載荷下(10-7--10-9N)薄膜材料的摩擦學(xué)特性??捎?/span>對(duì)分模式準(zhǔn)確標(biāo)定微懸臂與掃描方向的角度;可連續(xù)改變正壓力進(jìn)行測(cè)量;可同時(shí)測(cè)到樣品起伏、針尖所受的起伏力、橫向力;可獲取微觀摩擦系數(shù)。

9.減振系統(tǒng):懸掛式減振,減振效果優(yōu)于1Hz,是儀器達(dá)到原子分辨的有效保證。

 

以下10-20項(xiàng)的功能模塊請(qǐng)根據(jù)您的研究方向自由選配

10.磁力顯微鏡MFM獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對(duì)應(yīng)的磁疇結(jié)構(gòu)及分布圖。

11.靜電力顯微鏡(EFM):獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對(duì)應(yīng)的靜電場(chǎng)分布圖;

12.掃描開爾文探針顯微鏡:在針尖和樣品之間施加直流和交流兩種電壓,應(yīng)用鎖相放大技術(shù)可以獲得樣品表面的功函數(shù)變化和表面形貌像。

13.掃描電容顯微鏡:利用電壓調(diào)制技術(shù)來(lái)偵測(cè)材料表面電容微小變化。

14.導(dǎo)電原子力顯微鏡(C-AFM)獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對(duì)應(yīng)的電流像;通過(guò)對(duì)偏壓進(jìn)行調(diào)制,可得到樣品表面局域I-V曲線等信息。并可實(shí)現(xiàn)電壓刻蝕。

15.液相/氣氛AFM:封閉式探針-樣品體系,可充液體或氣氛,實(shí)現(xiàn)液相/氣氛AFM多種成像模式,適用于生物樣品,而且對(duì)克服毛細(xì)力和消除靜電也有顯著的作用。

由于密閉區(qū)域只有探針-樣品區(qū)域,因此可充具有一定腐蝕性的氣體或液體,而且可以很快地更換,殘留少??赏瑫r(shí)注入兩種液體/氣體,實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)更換,并隨時(shí)改變各自的注入量

可選配增強(qiáng)模式:在該系統(tǒng)中zui多增加3個(gè)外部電極,供用戶擴(kuò)展應(yīng)用范圍??膳c電化學(xué)控制系統(tǒng)聯(lián)用,構(gòu)成電化學(xué)SPM。

16.樣品加熱臺(tái):控溫范圍 室溫~150℃;精度0.5℃,*設(shè)計(jì)的樣品冷卻系統(tǒng),使降溫控制更加快速準(zhǔn)確。樣品臺(tái)直徑30mm,加熱臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)絕熱層的巧妙設(shè)計(jì),可有效抑制熱飄移現(xiàn)象對(duì)成像質(zhì)量的影響。可選配250℃高溫模式。

17.壓電力顯微鏡(PFM):于研究壓電、鐵電材料納米尺度的壓電響應(yīng)特征。

可選針尖加高壓模式電壓范圍-150V--150V


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