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TM106-LD 薄膜測厚/層積速率顯示儀

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

促銷時間：

特價說明：

促銷詳細：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

TM106-LD薄膜測厚儀/層積速率顯示儀的工作原理，是依據(jù)所測樣品薄膜厚度的改變而導(dǎo)致石英晶片振蕩頻率改變。將所蒸發(fā)材料的密度輸入到測試系統(tǒng)中，便可測量層積薄膜的厚度。此款測厚儀的分辨率為0.037 Å。

技術(shù)參數(shù)

功率	400 mA, 5V (dc)
測試頻率范圍	6.0 - 5.0 MHz
頻率分辨率	+/- 0.03 Hz @ 6 MHz
測量區(qū)間	0.10s
參考頻率穩(wěn)定性	+/- 2 ppm
厚度和速率分辨率	+/- 0.037Å 基頻=6MHz
厚度顯示分辨率	1 Å
尺寸	11.4 x 7.6 x 2.5 cm
重量	57g
操作系統(tǒng)	Windows 8, Windows 7, Windows Vista, Windows XP, 或Windows 2000
晶體探針架	探針長度：120mm 探針直徑：10mm 安裝有水冷夾層，保持探針的溫度低于150℃
軟件	包括STM-2軟件
可選石英晶體	含金石英晶體：用于測試金屬薄膜厚度合金石英晶體：用于測量非金屬薄膜厚度
安裝
質(zhì)保期	一年質(zhì)保期，終身維護
應(yīng)用	選擇合適的石英振蕩晶體，分為含金石英晶體和合金石英晶體含金石英晶體，適用于大多種材料測試合金石英晶體建議用于測試光學(xué)薄膜，介電薄膜或半導(dǎo)體膜等