直播推薦
更多>企業(yè)動態(tài)
更多>- 北京華測試驗儀器有限公司配合某檢測機(jī)構(gòu)搭建的絕緣材料實驗室
- 生態(tài)環(huán)境局項目案例:便攜式多參數(shù)水質(zhì)測定儀的應(yīng)用經(jīng)驗借鑒
- 【客戶案例】生態(tài)環(huán)境局的法寶 —— 便攜式多參數(shù)水質(zhì)分析儀的生態(tài)價值
- 佳化化學(xué)(茂名)有限公司采購佳航的卡爾費休水分測定儀 JH-V3
- 吉林省力盛制藥有限公司采購佳航的顯微熔點儀JHX-5Plus
- 山東金城醫(yī)藥有限公司采購佳航的全自動密度計Digipol-D50
- 祝賀2023年全國機(jī)械行業(yè)職業(yè)技能競賽―“三豐杯” 在浙江杭州順利舉行
- 2023年河北省全省無損檢測技能比武暨能力對比 完滿收關(guān)
推薦展會
更多>一些 5G 系統(tǒng)的制造商正在轉(zhuǎn)向更高水平的硬件集成,并在片上系統(tǒng)(SoC)設(shè)備中整合射頻轉(zhuǎn)換器和基帶處理引擎,以解決功耗和電路板空間問題。雖然這種集成有好處,但負(fù)責(zé)這些系統(tǒng)表征的工程師面臨著訪問數(shù)據(jù)的新挑戰(zhàn),因為之前的獨立射頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器現(xiàn)在將與 FPGA 和處理器在同一芯片上進(jìn)行組合。
另一個困擾工程師的因素是 5G 標(biāo)準(zhǔn)本身。作為一種新標(biāo)準(zhǔn),5G 很可能會向前發(fā)展,因此工程師們不僅需要應(yīng)對如何在集成設(shè)備中獲取表征數(shù)據(jù)的變化,還需要應(yīng)對參考波形和性能標(biāo)準(zhǔn)可能發(fā)生的變化。這給表征過程增加了額外的負(fù)擔(dān),它需要足夠的靈活性來應(yīng)對不斷變化的需求。
為了能夠通過 SoC 進(jìn)行數(shù)據(jù)訪問并應(yīng)對可能不斷變化的標(biāo)準(zhǔn),理想的表征環(huán)境需要靈活的信號生成和分析能力,它不僅能夠生成符合當(dāng)前 5G 標(biāo)準(zhǔn)的波形,還可以隨著標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展生成新的波形。這種信號生成和分析能力還需要能夠從新的 SoC 硬件中提取射頻數(shù)據(jù),而不需要射頻工程師成為 SoCs 編程方面的專家。
如果這種信號生成能力與信號捕獲和分析能力包含在相同的桌面環(huán)境中,工程師可以執(zhí)行許多射頻測試和表征任務(wù),而不需要傳統(tǒng)的臺式測試設(shè)備。
虛擬測試設(shè)備與傳統(tǒng)測試設(shè)備
雖然總會有地方放置臺式信號發(fā)生器、頻譜分析儀和其他相關(guān)傳統(tǒng)測試設(shè)備來驗證系統(tǒng)性能,但是這些儀器的成本和物理尺寸使得它們在系統(tǒng)設(shè)計的初始表征和“假設(shè)”階段不那么受歡迎。允許算法開發(fā)人員、射頻工程師和系統(tǒng)設(shè)計人員訪問他們的虛擬測試“實驗室”可以加速設(shè)計迭代,并幫助更快地獲得佳設(shè)計。
硬件和算法的不良選擇可以在設(shè)計過程的早期被剔除,而不會占用昂貴的共享資源,如臺式測試設(shè)備,更不會占用擁有該設(shè)備的相關(guān)測試人員。同樣,在進(jìn)行更廣泛的測試過程之前,可以快速識別出良好的設(shè)計理念,并將其發(fā)展到更高的程度,大大提高通過認(rèn)證的可能性,而無需大量的硬件返工,從而節(jié)省了開發(fā)時間和成本。
這里的目標(biāo)不是取代桌面測試,而是在過程的早期添加基于軟件的測試,從而降低硬件原型構(gòu)建成本并提高工程生產(chǎn)率。
但是,這類桌面特征化環(huán)境如何與 5G 系統(tǒng)開發(fā)的原型硬件一起使用呢?圖 1 顯示了 SoC 設(shè)備的軟件表征設(shè)置,該 SoC 設(shè)備由集成了可編程邏輯和基于 MCU 的處理系統(tǒng)的 8 通道射頻 ADC 和 8 通道射頻 DAC 組成。
圖 1. 連接到基于 PC 的測試環(huán)境的 EFSoC 開發(fā)工具包
信號將通過 MATLAB 應(yīng)用程序在 PC 上生成,然后發(fā)送到 Zynq UltraScale+ RFSoC 設(shè)備,輸出設(shè)備的 DAC,通過 ADC 后返回 PC?;?PC 的應(yīng)用程序 RFSoC Explorer 將管理數(shù)據(jù)傳輸、信號生成和各種分析功能,如圖 2 所示。
圖 2. RFSoC 資源管理器表征描述工具的截圖
這種“閉環(huán)”測試可減少對外部測試設(shè)備的需求,并允許用戶將 RFSoC 上的 ADC 和 DAC 的性能表征到足以對硬件的適用性做出判定的到水平。
這種基于軟件的測試方法使射頻工程師能夠訪問嵌入 SoC 中的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器,而無需對設(shè)備本身進(jìn)行編程來實現(xiàn)數(shù)據(jù)訪問,并提供信號生成所需的靈活性,允許用戶在標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展時根據(jù)需要修改波形。
擴(kuò)展測試方法
雖然基于軟件的測試方法能夠快速做出有關(guān)適用性的決定,但也有局限性,主要是硬件和主機(jī)之間通信通道的速度和測試軟件本身進(jìn)行信號分析的速度。如果測試要求更快的信號分析數(shù)據(jù)速率,則可以使用相同的軟件前端生成信號,將傳統(tǒng)的測試設(shè)備連接到 RFSoC 輸出端進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。這種方法仍然允許波形可編程性,同時緩解了潛在通信瓶頸的影響。
附加測試場景包括使用 RFSoC 設(shè)備上的可編程邏輯作為其自身的信號發(fā)生器,或在設(shè)備中添加邏輯以創(chuàng)建其自身的測試場景,例如對傳入數(shù)據(jù)設(shè)置某些觸發(fā)條件,并僅捕獲感興趣的數(shù)據(jù)以便在 PC 上進(jìn)一步分析,而不是流式傳輸所有數(shù)據(jù)。
如有侵權(quán)請聯(lián)系刪除。
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
第62屆中國高等教育博覽會
展會城市:重慶市展會時間:2024-11-15