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Zeta電位儀測(cè)試方法及測(cè)試原理分類(lèi)詳解

來(lái)源:北京海鑫瑞科技有限公司   2022年08月09日 19:56  
Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性,粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性,而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個(gè)參數(shù)?,F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。

HL8001系列zeta電位分析儀  

常見(jiàn)的幾種測(cè)試電位方法:

1.電泳光散射法:常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法,也就是電泳光散射法,由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合,隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大,而這種方法被廣大客戶(hù)接受。此方法的特點(diǎn)有:樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試;不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大;測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差,一般在±10mv以?xún)?nèi);

2.超聲電聲法電聲法不是采用光學(xué)方法,而是采用聲波信號(hào),因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng),可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣,因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢(shì)有:樣品無(wú)需稀釋?zhuān)哼M(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值,更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)。測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mv以?xún)?nèi)。可以測(cè)試微觀參數(shù),如德拜長(zhǎng)度,杜坎數(shù),雙電層的面電荷密度等。

3.流動(dòng)電位法:以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位,有很多客戶(hù)需要測(cè)試固體表面的zeta電位,中空纖維內(nèi)部的zeta電位,膜表面的zeta電位等,此時(shí)即需要流動(dòng)法來(lái)進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品,在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池,緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極,測(cè)試得到電壓值。

4.微電泳法:微電泳法測(cè)試zeta電位,前端兩側(cè)為四個(gè)電極,進(jìn)行正向和反向加電場(chǎng),*上方為ccd相機(jī),進(jìn)行對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤,得到信號(hào),從而得到每一個(gè)顆粒的遷移率,計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位,從而得到zeta電位的分布。

zeta電位儀測(cè)試的重要性及原理:

zeta電位是對(duì)顆粒間的靜電、電荷排斥/吸引強(qiáng)度的度量,是影響穩(wěn)定性的基本參數(shù)之一。通過(guò)測(cè)量可詳細(xì)了解分散、凝聚或聚團(tuán)的原因,還可改善分散劑、乳化劑及懸浮劑的配方。

zeta電位可用來(lái)作為膠體體系穩(wěn)定性的指標(biāo),如果顆粒帶有很多正的或者負(fù)的電荷,它們就會(huì)相互排斥,從而達(dá)到整個(gè)體系的穩(wěn)定性。相反,如果顆粒帶有很少正的或者負(fù)的電荷,它們就會(huì)相互吸引,從而達(dá)到整個(gè)體系的不穩(wěn)定性。一般來(lái)說(shuō),zeta電位愈高,顆粒的分散體系愈穩(wěn)定,水相中顆粒分散穩(wěn)定性的分界線一般認(rèn)為在+30mV或-30mV,如果所有顆粒都帶有高于+30mV或低于-30mV,則該分散體系應(yīng)該比較穩(wěn)定。

zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)?,F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。大致原理為:通過(guò)電化學(xué)原理將測(cè)量轉(zhuǎn)化成帶電粒子淌度的測(cè)量,而粒子淌度的測(cè)量測(cè)是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射,運(yùn)用波的多普勒效應(yīng)測(cè)得。

zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與*內(nèi)外其它同類(lèi)型儀器相比,它具有顯著的*性。

zeta電位儀應(yīng)用行業(yè):

1.半導(dǎo)體:研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

2.醫(yī)藥和食品行業(yè):乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。

3.陶瓷和顏料工業(yè):表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、等)和無(wú)機(jī)溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。

4.聚合物和化工領(lǐng)域:乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。

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