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更多>磁體表面磁場(chǎng)分布測(cè)量?jī)x/多極磁波儀測(cè)量報(bào)告
磁體表面磁場(chǎng)分布測(cè)量?jī)x是一種微機(jī)控制用于磁體表面磁場(chǎng)分布測(cè)量的儀器。多極磁波儀由機(jī)箱、樣品臺(tái)、測(cè)量探頭及支架、計(jì)算機(jī)組成。機(jī)箱中有提供被測(cè)樣品旋轉(zhuǎn)的步進(jìn)電機(jī)和控制及測(cè)量電路,控制樣品的旋轉(zhuǎn)、測(cè)量信號(hào)采集處理及測(cè)控?cái)?shù)據(jù)與計(jì)算機(jī)之間的通訊。
樣品臺(tái)用于夾持被測(cè)樣品。
測(cè)量探頭支架用于支撐和調(diào)整磁場(chǎng)測(cè)量探頭,使得探頭與被測(cè)樣品之間處于適合測(cè)量的位置。磁場(chǎng)測(cè)量探頭用于把被測(cè)樣品的表面磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
計(jì)算機(jī)用于輸入被測(cè)樣品信息、控制測(cè)量過(guò)程進(jìn)行、收集處理并顯示測(cè)量數(shù)據(jù)及存儲(chǔ)相關(guān)數(shù)據(jù)。
技術(shù)規(guī)格
磁場(chǎng)測(cè)量探頭:Hall探頭測(cè)量磁場(chǎng);橫向探頭/軸向探頭選擇;磁場(chǎng)量程:4mT,40mT,400mT,4T
樣品定位夾具:無(wú)磁性且精度高的夾具,同心度精度高
X,Y,Z三方向移動(dòng)范圍:X,Y,Z三坐標(biāo)垂直精度高;X,Y方向移動(dòng)范圍:100mm;Z方向移動(dòng)范圍:120mm;分辨能力:0.01mm
旋轉(zhuǎn)同心度:旋轉(zhuǎn)同心度高,經(jīng)過(guò)嚴(yán)格校準(zhǔn)
A/D采集:16Bit
旋轉(zhuǎn)測(cè)量分辨力:12000 點(diǎn)/360 o
測(cè)量軟件:Windows XP環(huán)境,測(cè)量數(shù)據(jù)可以EXCEL:形式保存在硬盤,可隨時(shí)查詢
測(cè)量報(bào)告:可以選擇X-Y座標(biāo)或極坐標(biāo)方式打印。
儀器供電:AC 220V, 50Hz, 15A
GG-AB阿貝折射儀檢定裝置
阿貝折射儀是利用全反射臨界角原理,測(cè)量透明、半透明液體或固體的折射率(nD)和平均色散(nF-nC)的儀器。
阿貝折射儀檢定裝置用于檢定阿貝折射儀或其它利用阿貝折射原理的計(jì)量?jī)x器。
測(cè)量范圍:
阿貝折射儀檢定裝置的折射率測(cè)量范圍為1.47~1.68。
測(cè)量不確定度
阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊的折射率測(cè)量不確定度:5×10-5(k=3)
阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊的平均色散測(cè)量不確定度:7×10-5(k=3)
儀器組成:
阿貝折射儀檢定裝置由四種阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊,三種折射液及一個(gè)鈉光燈和燈源組成。
四種阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊均為長(zhǎng)方形塊,分別由輕冕玻璃QK1,冕玻璃K9,火石玻璃F2,重火石玻璃ZF2四種.光學(xué)玻璃材料加工制成。
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