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介質(zhì)損耗測試裝置與各款高頻Q表配套可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）。介質(zhì)損耗測試裝置采用了數(shù)顯微測量裝置，因而讀數(shù)方便。測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。
技術(shù)參數(shù)：
平板電容器： 極片尺寸Φ50mm/Φ38mm 可選, 極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm

HJBG-3D高頻Q表

高頻Q表是一種通用的，多用途，多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器，高頻電容器及各種諧振元件的品質(zhì)因數(shù)（Q值）、電感量、電容量、分布電容、分布電感，也可測量高頻電路組件的有效串、并聯(lián)電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質(zhì)損耗、介質(zhì)常數(shù)等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產(chǎn)、科研、品質(zhì)管理等部門、也是高頻電子和通信實驗室的常用儀器。數(shù)字顯示高頻Q表測試回路采用了優(yōu)化的設(shè)計介質(zhì)材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機技術(shù)和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號源頻率，諧振回路自動搜索，測試標頻自動設(shè)置技術(shù)，使得測試精度更高，使生產(chǎn)線分選測試速度大增。
技術(shù)參數(shù)：
Q值測量：1-999 三位數(shù)顯，自動切換量程，可手動設(shè)置測量量程
固有誤差：≤5%±滿度值的2%
工作誤差：≤7%±滿度值的2%
電感測量：0.1μH-1H 誤差<5%±0.03μH
測試頻率：10kHz-60MHz 五位數(shù)顯 DDS數(shù)字合成
具有頻標自動設(shè)置,自動搜索諧振點,Q值合格設(shè)置,聲光指示
頻率誤差：3×10-5±1個字
調(diào)諧電容：主電容：40-500PF 誤差<±1%或 1PF
微調(diào)電容：±3PF 分辨率0.2PF