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更多>在渴望深入探究事物本質(zhì)的驅(qū)使下,人類在科學(xué)研究領(lǐng)域中不斷向前邁進(jìn)。多年來,蔡司 x射線技術(shù)為各領(lǐng)域提供了理想的洞察力。在質(zhì)量及過程控制方面,不需破壞工件,x 射線技術(shù)可檢測(cè)到即便敏銳雙眼也無(wú)法發(fā)現(xiàn)的隱藏缺陷。
兩個(gè)工件中僅一個(gè)內(nèi)部沒有缺陷。
別猜了,x-ray 它
蔡司 x-ray,見所末見
蔡司 x 射線系列助您解開謎團(tuán)
蔡司 x 射線解決方案讓暗藏的缺陷如今無(wú)所遁形, 此缺陷可導(dǎo)致產(chǎn)品召回,并造成巨大損失。
此缺陷可導(dǎo)致產(chǎn)品召回,并造成巨大損失。
您真的想要冒此風(fēng)險(xiǎn)嗎?
x 射線技術(shù)為發(fā)現(xiàn)暗藏的缺陷提供了全新的洞察力。
您可以快速無(wú)損地采集、分析、測(cè)量及檢測(cè)工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
揭露工件隱藏的秘密
x 射線技術(shù)為發(fā)現(xiàn)暗藏的缺陷提供了全新的洞察力。
您可以快速無(wú)損地采集、分析、測(cè)量及檢測(cè)工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
細(xì)節(jié)及數(shù)據(jù)
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
x 射線檢測(cè)技術(shù)可讓缺陷無(wú)所遁形,不僅為質(zhì)量管控開辟了全新的可能性,且為用戶帶來顯著的額外收益。
? 一次掃描 - 充分確定:可測(cè)量、分析及檢測(cè)出三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)無(wú)法檢測(cè)的隱藏缺陷及內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
? x 射線檢測(cè)技術(shù)實(shí)現(xiàn)無(wú)損洞悉工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)
? 無(wú)需復(fù)雜夾具,時(shí)間及費(fèi)用節(jié)省
? 借助 x 射線斷層檢查儀(工業(yè)CT)可掃描所有內(nèi)外部結(jié)構(gòu),即 便無(wú) CAD 模型,也可復(fù)制工件。
物有所值的投資
12個(gè)月內(nèi) 收回投資
在鋁鑄件生產(chǎn)過程中,于鑄造工序后對(duì)工件進(jìn)行檢測(cè)非常關(guān)鍵。如待到生產(chǎn)后期方檢測(cè)到缺陷,則將造成高昂的損失。而選擇自動(dòng)化在線檢測(cè)解決方案,您在12個(gè)月內(nèi)即可獲得投資回報(bào)。
節(jié)省時(shí)間 30 至70%
模具生產(chǎn)的成本投入很高,原因在于通常需要經(jīng)過多次修模循環(huán)周期, 直至模具得到優(yōu)化調(diào)整以及理想成型。借助 x 射線斷層檢查儀 (工業(yè)CT) 與蔡司逆向工程(zRE)軟件來采集 3D 模型的各種結(jié)構(gòu)特征 , 可有效改 善修模流程,縮減 30% 到 70% 的時(shí)間,從而顯著降低模具成本。
工件準(zhǔn)備時(shí)間縮減達(dá) 80%
工件準(zhǔn)備相對(duì)耗時(shí),因此,縮減不同掃描任務(wù)之間的工件準(zhǔn)備時(shí)間尤為 關(guān)鍵。 zElSS FixAssisto CT 機(jī)外預(yù)調(diào)系統(tǒng)可幫助提升 x 射線斷層檢查 儀(工業(yè)CT)的利用率,讓您的質(zhì)保流程更加高效。該附件可將工件準(zhǔn) 備調(diào)整時(shí)間縮短達(dá) 80%。而且:四個(gè)月內(nèi)即可獲得投資回報(bào)。
應(yīng)用
細(xì)節(jié)洞悉
測(cè)量
汽車、航空航天、醫(yī)療技術(shù)、電子、消費(fèi)品等各行業(yè)皆有其制造流程,往往會(huì)出現(xiàn)肉眼無(wú)法察覺的各類潛 在缺陷。x 射線檢測(cè)技術(shù)開辟了全新的應(yīng)用潛能,從內(nèi)部缺陷檢測(cè)、內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸測(cè)量 , 到材料結(jié)構(gòu)分析。
數(shù)模比對(duì) (公稱值/實(shí)際值比較)與 CAD 模型或者主件的偏差可 通過色差比對(duì)的形式進(jìn)行可視化。
尺寸測(cè)量
一次 CT 掃描即可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜內(nèi)外結(jié)構(gòu)特征的尺寸測(cè)量精度。
壁厚分析
通過色彩標(biāo)識(shí)表征內(nèi)部結(jié)構(gòu)的厚度。
模具及過程優(yōu)化
的工件檢測(cè)為模具及生產(chǎn)流程提供了有價(jià)值的數(shù)據(jù)。
研發(fā)與逆向工程
借助 3D 體積數(shù)據(jù) , 可輕松創(chuàng)建 CAD 模型,從而大幅加快產(chǎn)品研發(fā)與逆向工程的效率。
檢測(cè)
缺陷分析
快捷探測(cè)縮孔、氣孔 、 裂紋及其它缺陷。
裝配控制
檢查裝配件的功能及組裝狀態(tài)。
連接技術(shù)控制
一次掃描可檢測(cè)焊接、熔接、粘合或鉚接是否無(wú)瑕疵。
電子元件測(cè)試
電子元件例如電路板或電池通過 x 射線檢測(cè)實(shí)現(xiàn)缺陷快速可視化。
分析
結(jié)構(gòu)分析
借助于高分辨率 x 射線顯微鏡 實(shí)現(xiàn)良好的 3D 結(jié)構(gòu)特征呈現(xiàn)。
原位及 4D 分析
分析材料在外界影響及隨時(shí)間推移的表現(xiàn)。
表面紋理分析
分析內(nèi)外結(jié)構(gòu)的表面紋理。
纖維復(fù)合材料分析
清晰觀測(cè)復(fù)合材料中不同元素的 3D 分布及方向。
顆料尺寸及分布分析
顆粒尺寸及分布與材料硬度及強(qiáng)度相關(guān)。
見所未見
蔡司 x 射線系列
客戶及其應(yīng)用是蔡司關(guān)注的重點(diǎn)。為此,我們不僅提供硬件,更提供周全的解決方案,旨在更好地滿足客戶的需求。其包括硬件系統(tǒng)、軟件、附件及服務(wù),可根據(jù)用戶需求量身定制,蔡司讓這一切成為了可能。
軟件
除了值得信賴的 GOM Volume lnspect 軟件之外, 蔡司還有其他理想的軟件解決方案供您選擇。例如 : 可利用 zElSS METROTOM OS 對(duì) 3D 數(shù)據(jù)進(jìn)行
采集及后處理 , 借助 zElSS Piweb 匯總及獲取質(zhì) 量數(shù)據(jù)報(bào)告。
圖像采集
圖像評(píng)定
數(shù)據(jù)管理及工業(yè)4.0
系統(tǒng)
蔡司擁有高精度工業(yè) CT、自動(dòng) 2D 與 3D x 射線檢測(cè)系統(tǒng)以及高分辨率 3D x 射線顯微鏡, 無(wú)論您需要的是高精度測(cè)量、快速檢測(cè)還是納米級(jí)分析,蔡司皆可為您的應(yīng)用提供合適的解決方案。
2D x 射線檢測(cè)系統(tǒng)
X 射線斷層檢查儀(工業(yè) CT)
X射線顯微鏡
應(yīng)用
各行業(yè)及應(yīng)用皆面臨著需克服的挑戰(zhàn)。擁有豐富的 x 射線領(lǐng)域技術(shù),我們熟知您面臨的難題,并將運(yùn) 用我們的專業(yè)知識(shí)及解決方案為您提供支持。
增材制造
電池
葉片
電子
油氣
塑料
復(fù)合材料
多材料工件 裝配
材料研究
生命科學(xué)
服務(wù)
借助蔡司質(zhì)量中心的 x 射線掃描服務(wù),即便暫無(wú)自己的x 射線系統(tǒng),也可對(duì)工件進(jìn)行 x 射線檢測(cè)。您可以親身體驗(yàn)蔡司 x 射線檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)勢(shì),而無(wú)需承擔(dān)風(fēng)險(xiǎn)。
附件
我們?yōu)槟峁┝嗽S多其他選項(xiàng),保障您可以充分利 用硬件解決方案。zElSS FixAssisto CT 可以將設(shè)置 時(shí)間縮短 80%,從而幫助您提高生產(chǎn)效率。
蔡司 x 射線系統(tǒng)概覽
高精度測(cè)量及檢測(cè)
METROTOM 1
METROTOM 800 130 kV
METROTOM 6 scout
METROTOM 800 225 kV (HR)
METROTOM 1500
快速及自動(dòng)化的 3D 檢測(cè)與測(cè)量
高分辨率分析及檢測(cè)
Xradia 810 & 825 Synchrotron
Xradia 800 & 810 Ultra
Xradia 610 & 620 Versa
Xradia 510 Versa
Xradia 410 Versa
Xradia Context microCT
BOSELLO WRE thunder
BOSELLO OMNIA BOSELLO MAX
BOSELLO HEX
快速及自動(dòng)化的 2D 檢測(cè)
聯(lián)通高效
靈活,面向末來的解決方案
欲了解更多信息,請(qǐng)聯(lián)系我們:!
(蔡司工業(yè)測(cè)量)
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Aquatech China 2024亞洲水技術(shù)展覽會(huì)
展會(huì)城市:上海市展會(huì)時(shí)間:2024-12-11