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更多> 四探針電阻率檢測(cè)儀型號(hào):BT-300H
四探針測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研究成功的多用途的綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測(cè)量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測(cè)硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測(cè)的必需儀器。
儀器主要技術(shù)指標(biāo):
1. 范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴(kuò)展至105Ω—cm,
分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /電阻10-6—105Ω
2. 可測(cè)半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm
3. 測(cè)量方式:軸向、斷面均可(手動(dòng)測(cè)試架)
4. 數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測(cè)量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)
2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
5. 恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給
(2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
(3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)
6.四探針測(cè)試探頭 (1)探頭間距:1mm (2)探針機(jī)械游率:±0.3%
(3) 探針:Φ0.5mm
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2024第八屆河北國際工業(yè)博覽會(huì)
展會(huì)城市:石家莊市展會(huì)時(shí)間:2024-10-15