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TMC地面式主動隔振平臺SEM-Base VI
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    2020年04月20日
關(guān)鍵詞
主動隔振平臺,地面式隔振平臺
上傳者
青島森泉光電有限公司
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資料簡介

SEM-Base®VI

用于SEM的主動式壓電陶瓷振動

消除地面式平臺

 

優(yōu)勢:

  • 硬式裝載技術(shù)

SEM-Base VI兼容 SEM 內(nèi)部預(yù)裝的任何隔振系統(tǒng), 從 0.6Hz 開始主動強(qiáng)力消減地面低頻振動。

  • 主動慣性振動消除

SEM-Base VI采用高靈敏度的低頻慣性速度傳感器,即使在安靜的地面上也可以達(dá)到高水平的振動衰減。

  • 串行設(shè)計(jì)與壓電技術(shù)

*串行設(shè)計(jì)加上高強(qiáng)度壓電專li技術(shù),SEM-Base VI不但達(dá)到了寬至0.6Hz-150Hz的主動帶寬,更實(shí)現(xiàn)了的慣性主動振動消除,2Hz以上的振動衰減可達(dá)90%以上。

  • *集成式的單平臺設(shè)計(jì)

SEM-Base Vi設(shè)計(jì)與制造的集成化,將安裝平臺的工作簡化到了ji致,簡單的定位與設(shè)置之后即可正常工作。

: 可選SEM-Closure,專門設(shè)計(jì)用于保護(hù)SEMs的完整環(huán)境解決方案。在SEM-Closure密封隔音室內(nèi)可兼容放置SEM-Base VI與Mag-NetX,保護(hù)SEM免除振動、磁場擾動與聲波噪音的影響。

 

特點(diǎn):

  • STACIS專li技術(shù)
  • 主動慣性振動消除系統(tǒng)
  • 895×1124×160 mm(35.25×44.25×6.3 in.)適合絕大多數(shù)商業(yè)SEMs
  • 負(fù)載能力:408-1134 kg(900-2500 lb.)     
  • 隔振效率1Hz:40-70%

隔振效率2Hz:90%

隔振效率>3Hz:90-98%

  • 6個主動自由度
  • 安裝容易,調(diào)諧簡單
  • 兼容所有設(shè)備內(nèi)置的振動隔離系統(tǒng)
  • 電源:100-240VAC,50/60Hz,<600W
  • 是否需要空氣:非氣浮系統(tǒng)
  • CE與RoHS認(rèn)證
  • *集成式的單平臺設(shè)計(jì)
  • 可安裝腳輪,輕松便攜移動,無需搬運(yùn)
  • 兼容SEM-Lift系統(tǒng)

 

概述:

EM-Base VI是TMC STACIS主動壓電振動消除產(chǎn)品系列的新一代產(chǎn)品。SEM-Base VI設(shè)計(jì)用于承載所有商業(yè)掃描電子顯微鏡(SEMs)、多數(shù)聚焦離子束顯微鏡(FIB)及小型雙光束設(shè)備。SEM-Base VI可以提供升級版的振動隔離性能及更快更強(qiáng)勁的控制器,帶有高級圖形用戶界面(GUI)。SEM-Base VI讓越來越多的實(shí)驗(yàn)室、工廠可以實(shí)現(xiàn)能夠滿足其關(guān)鍵設(shè)備所要求的地面振動水平。

 

SEM-Base VI采用*串聯(lián)結(jié)構(gòu),振動傳感器測量的是地面振動,不是負(fù)載振動。這樣就確保了負(fù)載諧振將不會限制平臺的振動隔離或者引起不穩(wěn)定性。振動傳感器采用低頻慣性速度傳感器,在測量亞Hz振動時(shí)具有大的敏感度。加上TMC*的壓電致動技術(shù),SEM-Base VI即使在振動情況已經(jīng)很好的地面上也可以實(shí)現(xiàn)超高水平的振動消除。

 

相比于之前的SEM-Base版本,SEM-Base VI的振動隔離能力平均來說增加了6dB,而且采用了TMC新一代控制器DC-2020,采用新式雙核處理器,為設(shè)備擁有者及研究者提供非常簡單易于使用的圖形用戶界面,可以快速進(jìn)入系統(tǒng)并實(shí)現(xiàn)平和的操作心態(tài)。當(dāng)通過Ethernet連接時(shí),DC-2020在用戶的瀏覽器上即可實(shí)現(xiàn)SEM-Base圖形用戶界面,無需額外安裝軟件或者應(yīng)用程序。當(dāng)然用戶也可以通過控制器的板載式菜單驅(qū)動液晶屏(LCD)直接進(jìn)行控制。

應(yīng)用案例:

STACIS® ix SEM-Base 為如下SEM/FIB提供振動消除。FEI Helios NanoLab DualBeam SEM/FIB(左上)、 JEOL JSM-6700F掃描電鏡(右上),日立S-3400N SEM(左下)、Field Emission掃描電子顯微鏡(右下)

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