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近些年來,納米顆粒材料被越來越廣泛的應用于衣食住行等各領域 內(nèi),由此帶來的潛在的納米顆粒污染問題,逐漸引起了人們的重 視。單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜(spICP-MS)技術是近年來發(fā) 展起來的可用于進行納米顆粒表征的方法。使用此方法,可實現(xiàn)一 次進樣同時完成顆粒粒徑、數(shù)量濃度、元素含量及粒徑分布的分 析。 隨著技術的不斷發(fā)展,spICP-MS技術,包括硬件以及軟件都得到 了不斷的完善。但目前使用常規(guī)單四級桿spICP-MS對樣品中的納 米顆粒進行檢測時,仍面臨許多的挑戰(zhàn)。其中,主要的問題包 括:1. 在樣品檢測過程中,由于進樣系統(tǒng)的設計,使得樣品的傳輸 效率較低,通常情況下為總進樣量的1%-3%,因此會導致樣品消 耗量大,同時在納米顆粒檢測時需要延長采集時間才能夠獲得足夠 的信號數(shù)量來進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計,從而造成樣品浪費及檢測效率低的問 題。2. 使用傳統(tǒng)單四級桿spICP-MS檢測質(zhì)譜干擾較強元素的納米 顆粒時,由于干擾的原因,會出現(xiàn)納米顆粒信號無法與背景信號區(qū) 分的情況。在實際檢測過程中,納米顆粒樣品量通常較小,因此, 在檢測過程中,應盡量減少樣品消耗。同時,用戶對于大量存在的 硅、鐵等天然或人工合成的納米顆粒的檢測需求較高,所以,為了 克服上述問題,高效進樣系統(tǒng)與三重四級桿spICP-MS的組合成為 必然的選擇。 TQ ICP-MS是真正意義上的三重四級桿ICP-MS,采用雙四級桿質(zhì) 量選擇器(Q1和Q3)以及四級桿碰撞反應池(Q2)的設計,可以 完美實現(xiàn)上述提到的如硅元素等具有挑戰(zhàn)性的元素的準確分析定 量。而全新設計的單顆粒分析高效進樣系統(tǒng),則可以在實現(xiàn)微 流(10微升/分鐘)進樣的同時,完成液體樣品的100%進樣,節(jié)約 樣品。本研究對此方法進行了初步的摸索。
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