儀器簡介

XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗(yàn)、縮短產(chǎn)品滯留時間，zui小化實(shí)驗(yàn)室分析時間而設(shè)計(jì)的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)監(jiān)測，并作為中試過程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計(jì)允許其在苛刻危險的取樣環(huán)境中直接使用。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，同時加快了了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成精準(zhǔn)的分析。