目錄:奧林巴斯(中國)有限公司>>工業(yè)顯微鏡>>近紅外顯微分光測定儀>> USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀
產(chǎn)品簡介:
從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率,因此zui適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
技術(shù)參數(shù):
型號: USPM-RU-W | |||||
反射率測定 | 透過率測定*1 | 45度反射測定*1 | |||
名稱 | 近紅外顯微分光測定儀 | 用 透過測定選配件 | 用 45度反射測定選配件 | ||
型號 | USPM-RU-W | ||||
測定波長 | 380~1050nm | ||||
測定方法 | 對參照樣品的比較測定 | 對100%基準的透過率測定 | 對參照樣品的比較測定 | ||
測定范圍 | 參照下列對物鏡的規(guī)格 | 約ø2.0mm | |||
測定 再現(xiàn)性(3σ)*2 | 反射率測定 | 使用10×、20×物鏡時 | ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 ±0.2[%]以下(上述以外) | ±1.25[%]以下(430-1010nm)、 ±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外) | |
使用40×物鏡時 | ±0.05[%]以下(430-950nm)、 ±0.5[%]以下(上述以外) | ||||
厚膜測定 | ±1% | - | |||
波長顯示分解能 | 1nm | ||||
照明附件 | 鹵素燈光源 JC12V 55W(平均壽命700h) | ||||
位移受臺 | 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm 承重:3 kg 工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm | ||||
傾斜受臺 | - | 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 承重: 1 kg 工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1° | |||
裝置質(zhì)量 | 主體:約26 kg(PC除外) | 主體:約31 kg(PC除外)*3 | |||
控制電源箱:約6.7kg | |||||
裝置尺寸 | 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm | 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm | |||
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm | |||||
電源規(guī)格 | 輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz | ||||
使用環(huán)境 | 水平無振動的場所 溫度:15~30℃ 濕度:15~60%RH(無結(jié)露) |
*1 選件組件
*2 本社測定條件下的測定
*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
對物鏡 | |||
型號 | USPM-OBL10 | USPM-OBL20 | USPM-OBL40 |
倍率 | 10x | 20x | 40x |
NA | 0.12 | 0.24 | 0.24 |
測定范圍*4 | 70μm | 34μm | 17μm |
工作距離 | 14.3mm | 4.2mm | 2.2mm |
樣品的曲率半徑 | ±5mm~ | ±1mm~ | ±1mm~ |
*4 點徑實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。