JW-BK122W型 比表面及孔徑分析儀

精微高博是比表面積測定儀的廠商,精微高博比表面積測定儀一并榮獲中國*測試證書,*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過**

精微高博比表面儀具有專有的雙級真空技術(shù)，多級壓力傳感器，國內(nèi)*可進(jìn)行微孔分布測試的儀器。

比表面積測定儀功能

比表面測定：      BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面、Langmuir比表面、外表面測定

BJH孔徑分布測定：      總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布

微孔常規(guī)分析：      微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等）

微孔孔徑分布測試：    氮分壓10-7 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測定                                           0.35-2nm微孔孔徑分布分析（HK或FS法）

比表面積測定儀真密度測試

比表面積測定儀技術(shù)參數(shù)

比表面積測定儀原理方法：  低溫氮吸附，靜態(tài)容量法

比表面積測定儀吸附氣體：  高純氮?dú)?，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體

比表面積測定儀極限真空：  4 - 6.7×10-3 Pa （ 3 - 5×10-5 Torr）

比表面積測定儀氮?dú)夥謮海? 4×10-7 –0.995

比表面積測定儀控制精度：  測試壓力點(diǎn)控制zui小間隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr），測試點(diǎn)可多達(dá)一千個。

                         10-7-10-1范圍測試壓力點(diǎn)大于50點(diǎn)

比表面積測定儀測試范圍：  比表面  ≥ 0.005 M2/g，無規(guī)定上限

                         介孔孔徑分析 2 - 400nm

                         微孔孔徑分析0.35 - 2nm

比表面積測定儀測試精度：  ≤±2%

                          0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復(fù)精度 ≤0.02nm

比表面積測定儀測試效率：  多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min

                          孔徑分析時間隨材質(zhì)不同各異

比表面積測定儀預(yù) 處 理：  兩個樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃

比表面積測定儀軟件：  BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等

比表面積測定儀特色

    ◎  比表面儀具有國內(nèi)*通過*技術(shù)鑒定的產(chǎn)品，控制和測試精度達(dá)到*水平；

    ◎  比表面儀具有*雙級真空系統(tǒng)，測試系統(tǒng)實際真空度可達(dá)0.01Pa，P/Po達(dá)10-7，

          基本滿足了微孔測試條件；

    ◎  比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，保證了測試的準(zhǔn)確性和安全性；

    ◎  比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術(shù)，連續(xù)測試10小時也不需添加液氮；

    ◎  比表面儀具有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測試技術(shù)國內(nèi)；

    ◎  比表面儀具有國內(nèi)*擁有微孔分布測試軟件技術(shù)（HK、FS等）

    ◎  比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實時顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過程；

    ◎  比表面儀具有實驗全程自動化、智能化控制，長時間運(yùn)行*可以無人值守；

靜態(tài)容量法比表面測試儀特點(diǎn)之真密度測試：

技術(shù)參數(shù)：

     JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測試功能，測試時間不超過3分鐘/次，連續(xù)測試次數(shù)用戶可以自行定義，zui高次數(shù)可達(dá)10次。

★ 重復(fù)性：± 0.015 %；

★ 精確度：± 0.02 %；

★ 測試分辨率：0.00001 g/cm3