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首頁>>北京卓立漢光儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>工業(yè)分析儀器>>半導體光學參數(shù)檢測

  • zolix|全晶圓半導體參數(shù)非接觸測試解決方案 參考價:面議

    zolix|全晶圓半導體參數(shù)非接觸測試解決方案,基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術,聯(lián)合白光干涉...
    型號: 廠商性質:生產(chǎn)商所在地:北京市 對比
    晶圓缺陷檢測
    2024/7/11 16:43:36168
  • 光學參數(shù)檢測:寬場熒光顯微成像模組 參考價:面議

    光學參數(shù)檢測:寬場熒光顯微成像模組以自動化顯微鏡模組為基礎,針對 SiC 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
    型號: 廠商性質:生產(chǎn)商所在地:北京市 對比
    光學參數(shù)檢測寬場熒光顯微成像模組晶圓缺陷檢測
    2024/7/10 15:43:16134
  • 自動化顯微成像模組-半導體缺陷檢測 參考價:面議

    自動化顯微成像模組-半導體缺陷檢測,針對半導體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環(huán)節(jié)自動化視覺檢測需求。
    型號: 廠商性質:生產(chǎn)商所在地:北京市 對比
    自動化光學顯微鏡
    2024/7/4 10:17:15289

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