Huace-6 中端探針臺(tái) 參考價(jià)：75000
Huace-6 中端探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)；可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
Huace-4S小型探針臺(tái) 參考價(jià)：65000
Huace-4S小型探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。
Huace-4簡易探針臺(tái) 參考價(jià)：50000
Huace-4系列簡易探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等；外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠；
北京華測(cè)d33壓電系數(shù)測(cè)試儀器 參考價(jià)：50000
北京華測(cè)d33壓電系數(shù)測(cè)試儀器它不僅決定了壓電材料的性能，同時(shí)也直接影響著換能器的性能參數(shù)。由于同一批材料的壓電陶瓷參數(shù)具有很大的離散度，故測(cè)量壓電陶瓷的d33...
靜態(tài)壓電系數(shù)D33先進(jìn)材料測(cè)試儀 參考價(jià)：70000
靜態(tài)壓電系數(shù)D33先進(jìn)材料測(cè)試儀采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。 采用進(jìn)口激振器，以實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的振動(dòng) 頻率。電荷采用采用高阻放電荷...
靜態(tài)壓電系數(shù)d33先進(jìn)測(cè)試儀器 參考價(jià)：8900
靜態(tài)壓電系數(shù)d33先進(jìn)測(cè)試儀器采用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器，以實(shí)現(xiàn)jing準(zhǔn)的振動(dòng)頻率。電荷采用高阻放電荷放大器。以保證...
華測(cè)壓電系數(shù)測(cè)試儀器 參考價(jià)：70000
華測(cè)壓電系數(shù)測(cè)試儀器采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。 采用激振器，以實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的振動(dòng) 頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)...
靜壓電系數(shù)d33測(cè)量儀 參考價(jià)：70000
靜壓電系數(shù)d33測(cè)量儀采用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器，以實(shí)現(xiàn)jing準(zhǔn)的振動(dòng)頻率。電荷采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)...
靜壓電系數(shù)d33測(cè)量儀 參考價(jià)：50000
靜壓電系數(shù)d33測(cè)量儀器采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器，以實(shí)現(xiàn)jing準(zhǔn)的振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保...
華測(cè)熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：50000
華測(cè)熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)，是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。試樣的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即為TSDC譜。通過研究TSD...
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：35000
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容...
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：35000
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件...
華測(cè)儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 參考價(jià)：40000
華測(cè)儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測(cè)試儀它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量。
熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器 參考價(jià)：8000
熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備最大支持測(cè)試電壓10kV，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲...
耐壓絕緣測(cè)試儀 參考價(jià)：5300
耐壓絕緣測(cè)試儀HC9310系列不僅可以獨(dú)立的進(jìn)行交流耐電壓測(cè)試、直流耐電壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試，而且可以通過測(cè)試方案的項(xiàng)目設(shè)定，進(jìn)行多項(xiàng)目順序測(cè)試。
可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀 參考價(jià)：45000
可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參...
高溫快速爐 參考價(jià)：8240
高溫快速爐提高了加熱試驗(yàn)?zāi)芰?。同電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時(shí)間和保持時(shí)間及自然冷卻到室溫所需時(shí)間，再試驗(yàn)中也可改寫設(shè)定溫度值。從各方面講，都節(jié)省...
高真空退火爐 參考價(jià)：4537
高真空退火爐可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置儀器，在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護(hù)加熱...
高真空退火爐 參考價(jià)：280000
高真空退火爐是通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置儀器。它能在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，...
高溫快速爐 參考價(jià)：60000
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實(shí)現(xiàn)溫度的測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測(cè)儀器通過...
四探針測(cè)試儀 參考價(jià)：40000
HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)...
北京華測(cè)四探針測(cè)試儀 參考價(jià)：50000
HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試...
華測(cè)試驗(yàn)壓電材料居里溫度測(cè)試儀 參考價(jià)：9870
華測(cè)試驗(yàn)壓電材料居里溫度測(cè)試儀可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得...
華測(cè)儀器壓電材料居里溫度測(cè)試儀 參考價(jià)：14500
華測(cè)儀器壓電材料居里溫度測(cè)試儀可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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