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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià):面議
Hiden TOF-qSIMS 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀工作站設(shè)計(jì)用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用,包括聚合物,藥物,超導(dǎo)體,半導(dǎo)體,合金,光學(xué)和功能涂層以及...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)