智能卡三輪滾壓測(cè)試儀 參考價(jià):面議
智能卡三輪滾壓測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試??ū环诺綑C(jī)器中,測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次,芯片前方滾動(dòng)50次,芯片后方滾動(dòng)50次,循環(huán)頻率為...三輪測(cè)試儀* 參考價(jià):面議
三輪測(cè)試儀*適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試。IC卡滾壓測(cè)試儀 參考價(jià):面議
IC卡滾壓測(cè)試儀適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)