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瑞士TESA ETALON TCM200測量顯微鏡
- 公司名稱：
- 更新時間：
- 所 在 地：
- 生產地址：
- 瀏覽次數(shù)：
- 寧波坤寧機電設備有限公司
- 2015-11-26 13:00:00
- 寧波市
- 755
【簡單介紹】
【詳細說明】
主要特征
模塊化結構設計, 可根據(jù)需要進行光學長度測量或表面金相檢驗. 優(yōu)化的照明系統(tǒng), 精密滾珠軸承工作臺(150X100, 250X150mm 兩種), 線性金屬光柵尺組成的光電測量系統(tǒng), 計算機內核的數(shù)據(jù)處理單元, RS232 數(shù)字輸出, 出廠前的檢驗合格證書.
- 三坐標的非接觸測量,無測量力
- 測量分辨率0.5μm
- zui小的允許誤差保證了測量的高精度, 如150mm 長度測量的允許誤差僅為2.6μm
- 寬大的測量空間, 長度方向沒有空間限制
- 放大倍率達1000倍的表面結構檢驗, 光源照明充分
- 視頻攝像系統(tǒng)可進一步進行圖像分析
主機及其配置
| 訂貨號/Order Number | 06839006 | 06839007 | 06839008 | 06839009 | |
| 帶雙目鏡的主機 | · | · | · | · | |
| 35瓦透射冷光源 | · | · | · | · | |
| 90瓦反射冷光源 | · | · | · | · | |
| 測量范圍為150X100毫米的工作臺 | · | · | |||
| 測量范圍為250X150毫米的工作臺 | · | · | |||
| 可進行Z軸測量 | · | · | |||
| 數(shù)據(jù)處理單元 | QUADRA-CHECK 220 | · | · | ||
| QUADRA-CHECK 230 | · | · | |||
技術指標
| 訂貨號 | 06839006 | 06839007 | 06839008 | 06839009 |
| 測量范圍(mm) | 150 X 100 | 250 X 150 | 150 X 100 | 250 X 150 |
| 軸向zui大允許誤差 | (1.8+0.005L) μm, (L in mm) | (2.5+0.01L) μm (L in mm) | (1.8+0.005L) μm (L in mm) | (2.5+0.01L) μm (L in mm) |
| 主機重量 | 110kg | 140kg | 110kg | 140kg |
| 外型尺寸(寬X高X深） | 356 X 662 X 540 | |||
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