拉曼電鏡聯(lián)用系統(tǒng)可以結(jié)合樣品的微觀形態(tài)、元素分析、分子結(jié)構(gòu)、理化性質(zhì)、結(jié)晶度、晶體缺陷等信息,為科研人員提供了一個全新的多維分析平臺。該平臺可配置多種的拉曼光譜儀,為您提供個性化的應用選擇。
拉曼電鏡是一種用細焦電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品的相互作用,產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等,觀察分析樣品表面或斷裂形態(tài)的一種檢測方法。借助于EDS或WDS,可以獲得分析區(qū)域內(nèi)元素種類和含量的定性信息。還可以通過添加EBSD附件獲得晶體取向信息。但用SEM來表征物質(zhì)的化學結(jié)構(gòu)是比較困難的。
拉曼光譜是散射光譜的一種。通過測量物質(zhì)分子鍵的振動頻率,可以獲得物質(zhì)的化學結(jié)構(gòu)特征,如官能團、對稱基團、晶格缺陷等物質(zhì)的化學結(jié)構(gòu)特征的詳細信息,以及物質(zhì)的結(jié)晶度等。但是,拉曼電鏡聯(lián)用系統(tǒng)的組合系統(tǒng)的拉曼光譜往往是借助光學顯微鏡對樣品進行觀察和激光聚焦,受所使用的激光源波長(一般為紫外、可見光、近紅外波段)的限制,空間分辨率相對較低,因此在一些結(jié)構(gòu)復雜的樣品中,很難分辨出不同的相和顆粒,因此,拉曼電子顯微鏡的組合系統(tǒng)的拉曼光譜是一種比較好的方法。
可采用拉曼電鏡聯(lián)用系統(tǒng)對樣品進行原位分析。由于SEM數(shù)據(jù)和拉曼數(shù)據(jù)可以從同一點采集,因此可以快速直觀地表征樣品的表面形態(tài)與分子結(jié)構(gòu)的關系。在SEM圖像的基礎上,可以更準確地選擇樣品的測試區(qū)域進行快速、無損分析材料成分,得到準確的樣品成分數(shù)據(jù)。
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