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¥13200
簡(jiǎn)介:磁性材料分析ICP光譜儀特點(diǎn)如下:1.分析速度快一分鐘較快分析15個(gè)元素以上2.精密度高相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤1.5%3.穩(wěn)定性好相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤2.0%4.檢出限低μg∕L5.分析元素多可對(duì)7...
北京華科天成科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥13200
簡(jiǎn)介:北京華科天成材料分析光譜儀是我公司的新一代產(chǎn)品,具有檢測(cè)下限低,可達(dá)到ppb級(jí),檢測(cè)速度快,一分鐘可檢測(cè)15個(gè)元素以上,檢測(cè)范圍廣,可檢測(cè)所有金屬元素及部分非金屬元素。
北京華科天成科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥13200
簡(jiǎn)介:華科天成硅鐵分析ICP光譜儀是我公司的新型一代的光譜儀產(chǎn)品,具有檢測(cè)速度快,每分鐘達(dá)到15個(gè)元素以上,檢測(cè)范圍廣,可檢測(cè)從超微量至微量的定性分析或定量分析,檢測(cè)下限低,可達(dá)到ppb級(jí)等特點(diǎn)。
北京華科天成科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥13200
簡(jiǎn)介:我公司是專業(yè)生產(chǎn)高純硅分析ICP光譜儀的生產(chǎn)廠家,所生產(chǎn)的光譜儀可檢測(cè)從超微量至常量的定性分析或定量分析,可檢測(cè)所有金屬元素及部分的非金屬元素,而且檢測(cè)速度極快,每分鐘可檢測(cè)15個(gè)元素以上,檢測(cè)下...
北京華科天成科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥5000003140
簡(jiǎn)介:卓立漢光|半導(dǎo)體顯微激射熒光系統(tǒng),本文推出一個(gè)基于顯微光路結(jié)構(gòu)的測(cè)量系統(tǒng),耦合連續(xù)激光器、脈沖激光器、探針座(電激勵(lì)),分別以實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體材料的熒光光譜,光泵浦激射,電泵浦激射的測(cè)量功能。
北京卓立漢光儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥5000003140
簡(jiǎn)介:手套箱原位熒光光譜測(cè)量系統(tǒng),本文推出一種解決材料/器件在手套箱內(nèi)進(jìn)行PL測(cè)試的原位光譜測(cè)量方案。我們使用Y型光纖的耦合方式,將激光通過(guò)光纖一端耦合到手套箱中樣品的旋涂或者退火裝置進(jìn)行激發(fā),熒光信號(hào)...
北京卓立漢光儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥0.013140
簡(jiǎn)介:(RelayLens)中繼鏡:顯微鏡接譜儀,也稱增距鏡,其光學(xué)原理是把近距離的物體(實(shí)際檢測(cè)目標(biāo)),在更遠(yuǎn)距離的地方生成一個(gè)正立放大的虛像。中繼鏡主要由遮光筒和光學(xué)透鏡組成,主要用途是將光學(xué)顯微鏡...
北京卓立漢光儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥9999993140
簡(jiǎn)介:光柵單色儀/光譜儀Omni-λ750S采用全新的光路設(shè)計(jì),極大提高了光收集效率。采用一體化機(jī)身和優(yōu)化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使光譜儀的穩(wěn)定性進(jìn)一步提升。同時(shí)對(duì)整機(jī)進(jìn)行了輕量化設(shè)計(jì),使光譜儀的使用更加便利。
北京卓立漢光儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥9999993140
簡(jiǎn)介:TCSPCPlus熒光壽命升級(jí)包介紹:卓立漢光推出全新?代?精度時(shí)間相關(guān)單光?計(jì)數(shù)TCSPCPlus數(shù)采系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)低?2ps的時(shí)間分辨率,同時(shí)死時(shí)間降低?2ns,計(jì)時(shí)抖動(dòng)<10ps,可?持?達(dá)50...
北京卓立漢光儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
¥0.013140
簡(jiǎn)介:在托卡馬克裝置中,X射線晶體:彎晶光譜儀通過(guò)測(cè)量等離子體雜質(zhì)譜線的多普勒頻移與多普勒展寬來(lái)測(cè)量離子溫度和旋轉(zhuǎn)速度,尤其適合純射頻波加熱下等離子體溫度的測(cè)量,是托卡馬克裝置中的重要物理診斷之一。北京...
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