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簡介：MAXIM二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。·光柵控制，增強深度分析能...

簡介：二次離子質譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。

簡介：IONICON是高分辨率、高靈敏度、實時在線的質子傳遞反應飛行時間質譜儀的，VOCs和大氣自由基分析質譜儀對揮發(fā)性有機物進行實時在線定性及定量分析，用于直接測量氣體樣品中的痕量揮發(fā)性有機物。PTR...

簡介：小，輕，高分辨率的高分辨率質子轉移反應飛行時間質譜儀PTR-TOFMS檢測限：靈敏度：8000cps/ppbv分辨率：4500

簡介：質子傳遞反應飛行時間質譜儀PTR-TOFMS檢測限：靈敏度：2500cps/ppbv分辨率：6500

簡介：儀器簡介：HALO201MBE分子束外延殘余氣體分析四極質譜儀用于泄漏探測、趨勢分析、真空診斷的過程監(jiān)測和殘余氣體的分析。該分子束外延特定分析質譜儀由兼容性材料組成，并能在分子束外延環(huán)境中長期使用...

簡介：英國Hiden公司的DECRA/EXQRM緊湊型在線質譜儀是為在常壓附近連續(xù)定量分析氣體/蒸氣的而設計；QGA定量分析軟件實時輸出定量數(shù)據(jù)。

簡介：大氣壓進樣飛行時間質譜儀（APi-TOF）基于ioniTOF平臺和六極桿ION-GUIDES的同時檢測正負離子的新型大氣壓接口飛行時間質譜儀。

簡介：HidenTOF-qSIMS飛行時間二次離子質譜儀工作站設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學和功能涂層以及電介質，檢測限低于1ppm。TOF-qS...

簡介：HidenLAS泄漏分析系統(tǒng)在線質譜分析方法用于電池泄露，及其它小包裝樣品泄露測試。HidenLAS是自動化的，可在質量控制或研發(fā)環(huán)境中輕松使用，并可用于分析中小型電池組件的密封性。