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最新產(chǎn)品
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簡(jiǎn)介：FT160XRF鍍層分析儀準(zhǔn)確、可靠地測(cè)量最小部件上的鍍層，有助于您在PCB、半導(dǎo)體晶片和微連接器上維持一致且準(zhǔn)確的鍍層。
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電子天平 分析天平
面議0簡(jiǎn)介：品種：電子天平外形尺寸：217x365x343品牌：奧豪斯/OHAUS型號(hào)：AR64CN量程(g)：65可讀性(g)：0.0001重復(fù)性sd(g)：0.0001線性誤差(g)：0.0002校準(zhǔn)：自...
河南銘駿儀器儀表有限公司 產(chǎn)地：鄭州市我要詢價(jià) -
火焰-石墨爐一體化原子吸收光譜儀
面議0簡(jiǎn)介：技術(shù)指標(biāo)要求1.儀器系統(tǒng)原子吸收光譜分析系統(tǒng)，包括火焰分析系統(tǒng)和石墨爐分析系統(tǒng)，可進(jìn)行火焰發(fā)射、火焰吸收光譜分析和石墨爐原子吸收光譜分析
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原子吸收光譜儀
面議0簡(jiǎn)介：ThermoScientificiCE3300原子吸收光譜儀是一臺(tái)配備全石墨爐和氫化物發(fā)生選件的緊湊、高性能、PC控制的火焰原子吸收光譜儀
河南銘駿儀器儀表有限公司 產(chǎn)地：鄭州市我要詢價(jià) -
掃描電鏡
面議0簡(jiǎn)介：ZEISS的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡全部采用新型鏡筒（GEMINI）設(shè)計(jì)，具有優(yōu)良的高、低加速電壓性能
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TC-4509 直角探頭涂層測(cè)厚儀
￥58000簡(jiǎn)介：TC-4509直角探頭涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)...
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TC-4502 電渦流涂層測(cè)厚儀
￥36000簡(jiǎn)介：TC-4502電渦流涂層測(cè)厚儀原理：渦流涂層測(cè)厚儀：利用側(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻磁場(chǎng)，使置于側(cè)頭下面的導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導(dǎo)體與側(cè)頭之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)?？蔁o(wú)損測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)...
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TC-4510 防腐層涂層測(cè)厚儀
￥68000簡(jiǎn)介：TC-4510防腐層涂層測(cè)厚儀原理：測(cè)量磁鐵（側(cè)頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化；或者是測(cè)量通過(guò)覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化?？梢詿o(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基本體上非磁性覆蓋層的厚度...
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TC-4501 涂層測(cè)厚儀
￥36000簡(jiǎn)介：TC-4501涂層測(cè)厚儀原理：測(cè)量磁鐵（側(cè)頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化；或者是測(cè)量通過(guò)覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化?？梢詿o(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基本體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼...
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TC-4506 兩用涂層測(cè)厚儀
￥36000簡(jiǎn)介：TC-4506兩用涂層測(cè)厚儀：F1涂層測(cè)厚儀原理：測(cè)量磁鐵（側(cè)頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化；或者是測(cè)量通過(guò)覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化。N1涂層測(cè)厚儀原理：渦流涂層測(cè)厚儀：...
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TC4500 涂覆層測(cè)厚儀
￥16000簡(jiǎn)介：TC4500涂覆層測(cè)厚儀為磁性和渦流兩用覆層測(cè)厚儀,不僅可以用來(lái)測(cè)量鋼鐵等磁性基體,還可以用來(lái)測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層,可自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體,自動(dòng)轉(zhuǎn)換。操作單,...
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