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簡介：X射線熒光穿透膜及樣品杯樣品杯：采用一次性樣品杯，造價(jià)低，可避免樣品交叉污染；樣品制作快捷方便，不易泄露；采用單面膜樣品杯，可在樣品杯背面記錄樣品濃度、號碼、日期等。

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簡介：德國費(fèi)希爾X射線熒光鍍層測厚儀XAN系列XAN系列XAN?系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測量

簡介：德國費(fèi)希爾X射線熒光鍍層測厚儀XUL系列XUL系列在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且*地測定鍍層厚度時(shí)，XUL?系列測量儀器是您的優(yōu)選解決方案

簡介：簡單介紹：熒光X線膜厚計(jì)COSMOS-1X適合測定物精良的測定條件設(shè)定（高精度測定）采用二種濾波器采用數(shù)位式濾波器外另有機(jī)械式濾波器（兩種濾波器）在測不定期時(shí)，若是適當(dāng)?shù)臈l件下，經(jīng)?？傻玫礁叩木?..

簡介：特征●元素測定：13Al—92U●應(yīng)對RoHS/ELV等有害物質(zhì)法規(guī)檢測要求●工作曲線定量分析.無標(biāo)定性半定量分析●鍍層、薄膜及組成成份分析●測量樣品包括固體、粉末、液體等形態(tài)●全自動(dòng)篩選分析

簡介：高效、靈活的過程控制和質(zhì)量控制

簡介：布魯克波長色散型X射線熒光光譜儀S8LION，多道WDXRF光譜儀,適合水泥、礦產(chǎn)、采礦和金屬行業(yè)的過程和質(zhì)量控制的快速分析

簡介：