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具有定時(shí)、超溫灣,自動(dòng)校正誤差等功能板面采用201不銹鋼板,耐腐蝕、耐磨損、硬度高、高溫?zé)o翹曲變形冷軋鋼外殼,采用靜電噴塑處理工藝,耐腐蝕、耐老化
多頭磁力加熱攪拌器操作簡便,無級調(diào)速,能在可調(diào)的速度范圍內(nèi)對液體溶液進(jìn)行穩(wěn)定的攪拌,適合小體積樣品的試驗(yàn)。磁力攪拌器可以分為不加熱型、加熱型、恒溫型三類,有的機(jī)...
產(chǎn)品簡介:磁力加熱攪拌器操作簡便,無級調(diào)速,能在可調(diào)的速度范圍內(nèi)對液體溶液進(jìn)行穩(wěn)定的攪拌,適合小體積樣品的試驗(yàn)。磁力攪拌器可以分為不加熱型、加熱型、恒溫型三類,...
定時(shí)雙向數(shù)顯恒溫磁力攪拌器采用強(qiáng)力磁鋼,大功率攪拌電機(jī),整機(jī)造型美觀,操作簡便,具有雙向、定時(shí)攪拌功能,適用于石油、化工、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)保、生化實(shí)驗(yàn)室、分析室、教...
斑點(diǎn)式雜交點(diǎn)樣器用于分子的雜交、點(diǎn)膜點(diǎn)樣做DNA,RNA,PCR實(shí)驗(yàn),做克隆、造血干細(xì)胞實(shí)驗(yàn)用。分子生物學(xué)雜交實(shí)驗(yàn),可使用硝酸纖維膜,醋酸纖維膜,尼龍膜??讛?shù):...
狹縫式雜交點(diǎn)樣器用于分子的雜交、點(diǎn)膜點(diǎn)樣做DNA,RNA,PCR實(shí)驗(yàn),做克隆、造血干細(xì)胞實(shí)驗(yàn)用。分子生物學(xué)雜交實(shí)驗(yàn),可使用硝酸纖維膜,醋酸纖維膜,尼龍膜。孔數(shù):...
狹縫式雜交點(diǎn)樣器用于分子的雜交、點(diǎn)膜點(diǎn)樣做DNA,RNA,PCR實(shí)驗(yàn),做克隆、造血干細(xì)胞實(shí)驗(yàn)用。分子生物學(xué)雜交實(shí)驗(yàn),可使用硝酸纖維膜,醋酸纖維膜,尼龍膜??讛?shù):...
校準(zhǔn)波長:1064nm、532nm (分探頭給出)激光能量測量范圍:10nJ-20uJ灣小分辨率:0.1nJ可測激光頻率范圍:單次~2000Hz頻率測量精度:&...
校準(zhǔn)波長:1064nm(可根據(jù)需要選配)激光能量測量范圍:10mJ~20J(可根據(jù)需要選配)顯示方式:三位半數(shù)字顯示量程:200mJ、2J、20J(可根據(jù)需要選...
激光功率計(jì)適合用于小功率激光的功率測量,出廠時(shí)通常在632.8nm、532nm或650nm的激光波長上校準(zhǔn),或按照用戶需求校準(zhǔn)其它某一波長。儀器具有工作穩(wěn)定、量...
激光功率計(jì)中采用的硅光電傳感器與激光衰減器構(gòu)成的組合探頭。這種組合探頭不僅具有良好的光學(xué)均勻性、對激光偏振態(tài)及入射角的影響極不敏感等優(yōu)點(diǎn),更加突出的優(yōu)點(diǎn)是具有相...
激光探頭可以在功率密度 10 kW/cm2 、能量密度 70 J/cm2的激光束直接照射下正常工作。技術(shù)參數(shù):光譜相應(yīng)范圍:400 ~ 1100 nm顯示:雙極...
技術(shù)參數(shù):探測器光譜范圍:400nm ~ 1100 nm雙極性三位半位數(shù)字顯示測量波長:1064 nm量程:200W和 1000W激光輸入孔徑:Φ30 ...
該儀器采用流水式測量原理,無熱量積累,可長時(shí)間連續(xù)測量;吸收體與被測激光器形狀吻合,無接收死角,測量精度高;抗激光破壞閾值高,光譜響應(yīng)范圍寬。適用于大尺寸環(huán)形半...
特殊處理的探測器表面,抗激光破壞閾值高光譜響應(yīng)范圍寬,適用于多種波長的激光測試風(fēng)冷設(shè)計(jì),擴(kuò)展了適用范圍技術(shù)參數(shù):光譜響應(yīng)范圍:400nm~1100m
量的診斷、分析及激光系統(tǒng)遠(yuǎn)場效果模擬和驗(yàn)證 ??梢姽饧敖t外波段各種激光器光束質(zhì)量狀況測試和分析記錄和顯示遠(yuǎn)場激光光斑的光強(qiáng)分布及遠(yuǎn)場激光光束的漂移過程測量遠(yuǎn)場...
該儀器適用于萬瓦級高功率激光器及其加工系統(tǒng)輸出功率實(shí)時(shí)監(jiān)測和反饋控制。適用于萬瓦級二氧化碳激光加工機(jī)輸出激光功率實(shí)時(shí)監(jiān)測。技術(shù)參數(shù):光譜響應(yīng)范圍:500nm~1...
峰值功率。高速處理電路設(shè)計(jì)使儀器可以直接顯示測量結(jié)果,避免了常規(guī)方法用光電傳感器和示波器搭建的測量裝置帶來的繁瑣和不確定性。通過顯示器上的波形輸出接口還可以觀察...
基片面形的變化(變形)來測量曲率半徑的變化及應(yīng)力分布,從而計(jì)算薄膜應(yīng)力。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件工藝研究及質(zhì)量控制,為改善半導(dǎo)體器件可靠性提供測試數(shù)據(jù)。本儀器適用于...
試。適用于微電子、光電子器件科研灣中電子基片和薄膜的面形分布、應(yīng)力分布和應(yīng)力釋放過程的測試,為提高電子元器件質(zhì)量和可靠性提供數(shù)據(jù)支持??蓽ySi、CaAs、InG...
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