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簡介：一、儀器用途TGB-500透反射式硅片檢測顯微鏡主要用于太陽能電池硅片的觀察.它能生產(chǎn)高清晰的圖像,立體感較強(qiáng)，成像較清晰和寬闊，又具有長工作距離，并具有較大的視場范圍和相應(yīng)的放大倍數(shù),配有高像素...

簡介：一、儀器用途TGB-600大平臺明暗場硅片檢測顯微鏡是適用于對太陽能電池硅片的顯微觀察

簡介：一、儀器用途TBM-600半導(dǎo)體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區(qū)寬度，半導(dǎo)體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等，刻蝕圖形的線條長、寬、直徑間距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的儀器

簡介：一、儀器用途TBM-800半導(dǎo)體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區(qū)寬度，半導(dǎo)體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等，刻蝕圖形的線條長、寬、直徑間距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的儀器

簡介：產(chǎn)品概述：科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC配有大范圍移動的載物臺、采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能

簡介：一、儀器用途TBM-900半導(dǎo)體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區(qū)寬度，半導(dǎo)體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等，刻蝕圖形的線條長、寬、直徑間距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的儀器

簡介：產(chǎn)品概述：三目微分干涉金相顯微鏡XJ-55DIC采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能

簡介：產(chǎn)品概述：科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-51DIC采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能

簡介：產(chǎn)品概述：科研級明暗場正置金相顯微鏡XJ-58C配有電動調(diào)焦的載物臺、落射照明器、無限遠(yuǎn)明暗場長距平場物鏡和大視野目鏡的配置

簡介：產(chǎn)品概述：科研級暗場金相顯微鏡XJ-52BD配有大范圍移動的載物臺、采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念，帶有偏光裝置、暗場裝置，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能