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最新產(chǎn)品
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簡介:FT160XRF鍍層分析儀準確、可靠地測量最小部件上的鍍層,有助于您在PCB、半導體晶片和微連接器上維持一致且準確的鍍層。
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簡介:日本KETTLH-373電渦流膜厚計為LH-370型的升級版,儀器采用渦電流測試原理無損測試非磁性金屬上的厚度,其資料傳輸速度更快。
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簡介:日本KETTLZ-373渦磁式膜厚計配電磁渦流雙探頭,該儀器測量準確,用途廣泛,可測量各種異形基體,如弧形、彎型、柱形、管型等。
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簡介:日本KETTLE-373磁感應膜厚計采用電磁感應測試原理無損測試磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層的厚度,可將測試數(shù)據(jù)導入電腦或直接通過外接打印機打印。
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簡介:日本KETTLZ-200J兩用膜厚計采用電磁和渦流兩種測量模式,精度達2%,測量1500μm內(nèi)的磁性金屬底材涂層或800μm內(nèi)的非磁性金屬上涂層。
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簡介:日本KETTLZ-990渦磁兩用式膜厚計是采用電磁、渦流一體的小型膜厚計,無需人工轉(zhuǎn)換,探頭自動識別磁性和非磁性金屬底材,準確無誤地讀出電磁和渦流模式的覆蓋層厚度。
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簡介:日本KETTLE-200J膜厚計是日本KETT全新研制的內(nèi)置打印機型涂層厚度測試儀,采用電磁感應測試原理無損測試磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層的厚度。
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簡介:日本KETTLH-200J型電渦流膜厚計采用電渦流原理,0-800μm量程,3%精度,帶打印功能。
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簡介:日本KETTLW-990膜厚計測試臺人工測量誤差減小,對測量管狀物很有效。
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簡介:德國ListMEGA-CHECKMaster涂鍍層測厚儀應用于非鐵金屬上的所有絕緣涂層厚度的測量,又用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層厚度的測量。
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簡介:德國ListTOP-CHECKFE/FN涂鍍層測厚儀既應用于非鐵金屬(鋁、鋅、銅等)上的所有絕緣涂層厚度的測量,又應用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層厚度的測量。
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