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簡介：SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測量，可以從10-6--105Ω—cm全量...

簡介：產(chǎn)品名稱：雙電測四探針測試儀/四探針電阻率測試儀產(chǎn)品貨號：wi94293產(chǎn)地：國產(chǎn)

簡介：KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。

簡介：測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式設(shè)計；體積僅為：185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高)；重量：350g；使用鋰電池供電，一次充電可連續(xù)使用100小時；

簡介：儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。

簡介：測量范圍電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴(kuò)展)；方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴(kuò)展)；電導(dǎo)率：0.005～1000s/cm；電阻：0.001～200Ω.cm；可測晶片直徑140mmX...

簡介：1．主機(jī)采用的*電路設(shè)計，所測數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點(diǎn)：體積大，速度慢，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）。2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示），手自一體（自動是標(biāo)配，手動手...

簡介：數(shù)字式四探針測試儀，是二量程的電阻測量儀器，配以手持式測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程...

簡介：RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量，能自動消除樣品幾...

簡介：4型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。