太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點(diǎn)和用途: 
          DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對(duì)半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級(jí)工業(yè)金相顯微鏡使用。可進(jìn)行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對(duì)太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數(shù)字?jǐn)z像頭及圖像測量管理軟件，可對(duì)太陽能電池板圖像進(jìn)行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。

性能特點(diǎn)：

1、采用了較的光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像分析融為一體的圖像測量技術(shù)。

2、可對(duì)太陽能電池硅片進(jìn)行檢查、拍照、測量、保存、輸出等多種操作。

3、系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)、大尺寸工作臺(tái)的三目透反射顯微鏡

4、可以測量太陽能電池片裂紋長度，崩邊長度角度，印刷位移角度偏差

5、可以測量主、副柵線，背電極的寬度、均勻度、柵線間距離及副柵線

   到電池邊的距離，柵線、斷線長度，斷線缺損和變色的面積

6、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑，裂紋，崩邊，掉

   角缺口，印刷偏移主副柵線、背電極的斷線，缺損，扭曲，變色等現(xiàn)象。

7、可對(duì)雜質(zhì)、殘留物成分進(jìn)行分析。雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無機(jī)雜

   質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等。

。

二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術(shù)參數(shù):

三、系統(tǒng)的組成 ： 

1、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300       2、電腦適配鏡　

3、彩色數(shù)字?jǐn)z像機(jī)CK-500   　        4、計(jì)算機(jī)(選購)