PVC環(huán)/壓樣環(huán)/X射線熒光光譜儀壓片機(jī)專用塑料環(huán)-華普通用 參考價：面議
應(yīng)用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機(jī)作為壓樣模具。
日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 3760-華普通用 參考價：面議
全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖
日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用 參考價：面議
Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計。
日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310-華普通用 參考價：面議
日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量
日本理學(xué)MiniFlex 600 臺式X射線衍射儀-華普通用 參考價：面議
理學(xué)臺式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。
日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀WDA 3650-華普通用 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析
日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動多用途X射線衍射儀（XRD） 參考價：面議
日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測量
日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231-華普通用 參考價：面議
日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231測量體重變化和吸熱或放熱反應(yīng)
日本理學(xué)差示掃描量熱儀DSC8231-華普通用 參考價：面議
差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。
德國蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350-華普通用 參考價：面議
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。
德國蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550-華普通用 參考價：面議
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。
德國蔡司多束掃描電子顯微鏡MultiSEM系列-華普通用 參考價：面議
德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡
福祿克Raytek® Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計-華普通用 參考價：面議
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。
BUCHI Pure 制備色譜系統(tǒng)-華普通用 參考價：面議
Pure色譜儀非常的緊湊，確保的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。
Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng)-華普通用 參考價：面議
Chroma 3650可在一個測試頭中，提供最多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。
福祿克ThermoView TV40 工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)-華普通用 參考價：面議
全天候監(jiān)控您的工藝、產(chǎn)品和生產(chǎn)現(xiàn)場
福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測溫儀-華普通用 參考價：面議
雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測得運動物體的準(zhǔn)確溫度圖像。
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用 參考價：面議
Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設(shè)計用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運行...
日本理學(xué)Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
40 多年來，日本理學(xué)Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具
日本島津AGS-X系列電子試驗機(jī)-華普通用 參考價：面議
AGS-X系列試驗機(jī)采用主機(jī)與控制裝置一體化結(jié)構(gòu)，占地面積小，是操作簡便的小型化電子試驗機(jī)。該系列機(jī)已經(jīng)取得國際CE認(rèn)證，是目前業(yè)內(nèi)性價比較高的試驗機(jī)。
日本島津EZ-Test系列單柱式電子試驗機(jī)-華普通用 參考價：面議
電子試驗機(jī)易于使用、緊湊、時尚的框架包含增強(qiáng)功能,使測試能夠高效進(jìn)行。
Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀-華普通用 參考價：面議
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學(xué)特性...
功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)DT10-華普通用 參考價：面議
專業(yè)測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態(tài)時間參數(shù)特性，測試范圍可達(dá)3500V 4000A
ZEISS SPECTRUM系列三坐標(biāo)測量儀-華普通用 參考價：面議
ZEISS SPECTRUM系列擁有ZEISS SPECTRUM和ZEISS SPECTRUM plus, 其能夠讓您的生產(chǎn)確定性和效率將提升至一個新的高度。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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