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簡介：反射膜厚儀/測厚儀/F40系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具FilmetricsF40系列主要用于測試各種透明半透明的膜厚，可測量小到1微米的光斑

簡介：反射膜厚儀/測厚儀/F20系列的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率

簡介：反射膜厚儀/測厚儀/F50系列自動多點測量成像FilmetricsF50系列的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度

簡介：F3-sX系列膜厚儀F3-sX系列膜厚儀能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度不好；波長選配F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度，即使有許多肉眼...

簡介：簡要描述：PG70ABDL精密超聲波測厚儀的屏幕可選分辨率為0.01mm或0.001mm（0.001/0.0001英寸），可同時用A型和B型掃描來顯示厚度值，以便用戶準確評估各類材料。

簡介：簡要描述：38DLPlus多功能超聲測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DLPLUS測厚儀...

簡介：簡要描述：45MG超聲波測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所...

簡介：簡要描述：FMP30涂層測厚儀根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量LIgt;，自動識別基材（FMP40）可存儲高達20,000個數(shù)據(jù)，可建立多達100個應(yīng)用程式

簡介：簡要描述：PowerBoxH電磁超聲高溫測厚儀是一款專門為金屬導磁材料高溫測厚、高溫探傷及材料特性測量而設(shè)計的高功率便攜式電磁超聲產(chǎn)品。高功率特性，激發(fā)高強度的脈沖串信號，可激發(fā)1200V的脈沖電...

簡介：簡要描述：FMP100涂鍍層測厚儀是菲希爾新推出一款多功能的涂層測厚儀，F(xiàn)MP100是中英文系統(tǒng)可以互換，明亮彩色LCD顯示器，觸摸屏，帶USB接口。FMP100可以直接PDF格式打印，密碼保護，...