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簡介:AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能,可以檢測溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響?!ぬ?..
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簡介:標(biāo)準(zhǔn)配備改良過的測量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能,以及簡單明了的圖形用戶界面。因此,即使是剛剛接觸SPM的人,或者測量某種全新的樣品時(shí),也能取得具有較高再現(xiàn)性的數(shù)據(jù)?!ぬ攸c(diǎn)1.RealTune?II的測量參數(shù)...
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簡介:標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器(附自動(dòng)校正功能)搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像采...
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簡介:1)支持超大/超重樣品測試可搭載的樣品尺寸:“SU3800”標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應(yīng)對(duì)高度為80mm、重量為2kg的樣品?!癝U3900”作為日立的大型掃描電鏡,標(biāo)配可搭載直徑3...
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簡介:AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測...
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簡介:臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用...
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簡介:FlexSEM1000II,憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20kV下實(shí)現(xiàn)4.0nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面,具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此...
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簡介:核心理念采用優(yōu)異的成像技術(shù)SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測信號(hào)。全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測系統(tǒng),使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背散射電子等信號(hào),用戶可以在短時(shí)間內(nèi)獲...
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簡介:沿用"SU8200系列"的冷場發(fā)射電子槍*2采用電子束在Flashing后出現(xiàn)的高亮度穩(wěn)定區(qū)域作為穩(wěn)定觀察的區(qū)間,使得低加速電壓條件下兼?zhèn)涓叻直嬗^察和分析的性能(Regulus8240/8230/...
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